CMI760銅厚測試儀
牛津儀器測厚儀器CMI 760專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和品質控制的需求而設計。
CMI 760可用於測量表面銅和穿孔內銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統能採用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和穿孔內銅厚度準確和精確的測量。CMI 760臺式測量系統具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的相容使其滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅品質測試的多種應用需求。
同時CMI 760具有先進的統計功能用於測試資料的整理分析。
CMI 760配置包括：
- CMI 700主機
- SRP-4探頭
- NIST認證的校驗用標準片
選配配件：
- ETP探頭
SRG軟體
SRP-4面銅探頭測試技術參數：
銅厚測量範圍：
化學銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）
線形銅可測試線寬範圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）
準確度：±5%參考標準片
精確度：化學銅：標準差0.5%；電鍍銅：標準差0.5 %
解析度：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔銅探頭測試技術參數：
可測試zui小孔直徑：35 mils （899 μm）
測量厚度範圍：0.08 – 4.0 mils （1 – 102 μm）
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規定
準確度：±5%參考標準片
精確度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0% （實驗室情況下）
解析度：0.01 mils （0.1μm）
