烘箱，精密烘箱簡介：

用于半導體制造中硅片、砷化鎵、鈮酸鋰、玻璃等材料預處理烘烤；也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實驗室等生產及科研部門；也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗。

烘箱，精密烘箱技術指標：

內尺寸：600(W)×900(H)×500(D)mm可自定；

外尺寸：以實物為準；

內部材質為：鏡面不銹鋼板；

外部材質為：鋼板粉體烤漆；

門開啟方式：門由右至左開啟；

通風口孔式：可調；

控制箱：位于機臺上方；

合頁：U型合頁；

門鎖：長鎖式；

保溫：耐高溫硅酸鋁棉；

密封條：耐高溫硅膠條；

觀測窗：無鋼化玻璃窗口；

柵板：內分八層,配網板四片；

機臺安裝有帶剎車活動輪腳；

溫度范圍：常溫-300度。

一、高低溫試驗箱，微型高低溫試驗箱特點及用途：

      高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關產品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫；也可用于高溫、低溫的循環(huán)試驗。

《GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件》

《GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件》

《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗》

《GJB 150A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法》

《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法》

《JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范》

《GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》

二、高低溫試驗箱，微型高低溫試驗箱主要技術參數：

1、溫度范圍： -75、-40℃~150℃；

2、溫度波動度：≤±0.5℃；

3、溫度均勻度：≤±2℃ ；

4、內腔尺寸（W×H×D)：300×300×225 （mm）；

5、外形尺寸（W×H×D)：460×910×785 （mm）；

6、電源： 220V 50Hz 1.5KW。

三、結構：

 1、箱體采用CNC數位工作母機成型，造型美觀大方；

 2、箱體內部采用SUS304鏡面不銹鋼板，外部采用SECC鋼板噴塑處理，以 

    增加外觀質感及潔凈度；

 3、大型觀察窗，配有照明燈，保持箱內明亮，利用發(fā)熱體內嵌式玻璃，隨時保持清 

    晰的觀測箱內的狀況；

 4、機器底部采用高質量可固定式活動輪，以便固定及移動之用。

四、高低溫試驗箱，微型高低溫試驗箱控制系統(tǒng)：

1、控制系統(tǒng)：可編程控制器+觸摸屏；

2、溫度控制：采用P.I.D.+S.S.R.系統(tǒng)同步協(xié)調控制，可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命；

3、程序控制：定點控制、程序控制；

4、遠程控制：具備RS232接口，可以實現(xiàn)遠程網絡控制；

5、數據存儲：具備USB接口，全部運行數據自動存儲，并可實現(xiàn)自由導出。