SGC-10薄膜測厚儀適用于介質，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜測厚技術，基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數（折射率n，消光系數k）。它通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用相應的軟件來擬合運算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數k。
產品型號 | SGC-10薄膜測厚儀 |
主要特點 | 1、非接觸式測量，用光纖探頭來接收反射光，不會破壞和污染薄膜； 2、測量速度快，測量時間為秒的量級； 3、可用來測薄膜厚度，也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k； 4、可測單層薄膜，還可測多層膜系； 5、可廣泛應用于各種介質，半導體，液晶等透明半透明薄膜材料； 6、軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數，可供用戶參考； 7、內嵌微型光纖光譜儀，結構緊湊, 光纖光譜儀也可單獨使用。 8、強大的軟件功能：界面友好，操作簡便，用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大，可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規的材料的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。 |
