采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統（能大限度發揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

高度分辨率10nm，輕松測量微小輪廓

納米檢測顯微鏡由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡，OLS4500達到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯*的亮度檢測技術，OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外， 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

從大范圍拼接影像中目標區域

納米檢測顯微鏡高倍率影像容易使視場范圍變小，而通過設置，OLS4500的拼接功能多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數據。不僅如此，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。

注：該儀器未取得中華人民共和國科研注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關用途

奧林巴斯集團（OLYMPUS)創立于 1919 年。迄今為止，奧林巴斯株式會社已成為日本乃至世界精密、光學技術的代表企業之一，事業領域包括醫療、生命科學、影像和產業機械。