導波雷達,可發出高頻率微波,沿著探桿傳播,由于遇到被測介質,介電常數突變,引起反射。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質的距離成正比。同時,導波雷達也可以測量兩種不同介質的界面,充分利用介質的介電常數的不同。但測量條件是上層介質不導電,或其介電常數比下層介質介電常數小10倍以上。脈沖的工作方式可測小介電常數介質,并安全適用于各種金屬,非金屬容器內,對人體及環境無傷害。可測量固體料位、液體的液位、液體的界面。
導波雷達物位計
適用介質:液體,固體粉料
應 用:液體及固體粉狀測量,復雜過程條件
防爆認證:Exia IIC T6 Ga/ Exd IIC T6 Gb
測量范圍: 30m
頻 率:500MHz-1.8GHz
天 線:單纜或單桿式天線
測量精度:±10mm
過程溫度:-40~130℃(標準型)/-40~250℃(高溫型)
過程壓力:(-0.1~4)MPa
信號輸出:(4~20)mA/HART
現場顯示:四位LCD 可編程
電 源:兩線制(DC24V)/四線制(DC24V/AC220V)
外 殼:鋁 單腔/鋁 雙腔/塑料/不銹鋼 單腔
過程連接:螺紋/法蘭(選配)
導波雷達物位計特點:
● 便于安裝。
● 幾乎不受腐蝕、泡沫影響;幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。
● 嚴重粉塵環境對高頻物位計工作影響不大。
● 波長更短,對在傾斜的固體表面有更好的反射。
● 波束角小,能量集中,增強了回波能力的同時又有利于避開干擾物。
● 測量盲區更小,對于小罐測量也會取得良好的效果。
● 高信噪比,即使在波動的情況下也能獲得更優的性能。
● 高頻率,是測量固體和低介電常數介質的好選擇。