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QCC維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀

參考價	￥ 6000
訂貨量	≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱北京泰科瑞迪工業(yè)設(shè)備有限公司
品牌
型號MicroLine-
所在地秦皇島市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時間2020/6/2 13:04:42
訪問次數(shù)320

產(chǎn)品標簽:

影像測量儀高精密光學影像測量美國MicroLine

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公司介紹主營產(chǎn)品

北京泰科瑞迪工業(yè)設(shè)備有限公司是一家新成立的公司，專門經(jīng)銷美國和歐洲的工業(yè)產(chǎn)品，特別的那些不好尋找的產(chǎn)品。公司在美國和德國有，成本低，國外倉庫拼單發(fā)貨，運費低。主要產(chǎn)品應(yīng)用于電力電廠、石油、化工、冶金鋼鐵、水處理、機械廠等方面的廣泛使用。

我們的優(yōu)勢所在：
1、公司在德國，美國都有公司，直接廠家采購。

2、北京公司是新公司，對于所有新客戶，付款方式靈活：

1）現(xiàn)貨產(chǎn)品可不用付款，采用物流代收款（超過5000元，需要到物流自提）。

2）期貨產(chǎn)品需預(yù)付30%預(yù)付，尾款Rmb20000.00內(nèi)，可以物流代收款，超過Rmb20000，建議到我公司提貨，我公司可適當承擔部分費用。

3、德國，美國公司集中采購，統(tǒng)一清關(guān)。

4、貨期快，標準貨期：6-8周
5、每周從德國,美國發(fā)貨，次周可清好關(guān).。
6、產(chǎn)品可修或換。

展開顯示更多內(nèi)容

電機，泵，傳感器，風機，濾芯，檢測儀器，儀器儀表，備品備件等

產(chǎn)品簡介在線詢價

加工定制	否

維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀
MicroLine 系列主要用于測量半導體、MEMS 晶圓、光刻掩模板等尺寸和涂覆物（多層套刻、圓、對接誤差等）量測。
MicroLine 臨界尺寸測量系統(tǒng)設(shè)計應(yīng)用于半導體和MEMS晶圓以及光掩模CD量測。Microline 系列可自動測量線寬，迭置重合，和其他關(guān)鍵尺寸。

MicroLine 裝備有高性能光學顯微鏡，高精度運動平臺，可測量0.5

QCC維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀產(chǎn)品信息

維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀

MicroLine-300是一款桌上型半自動CD測量系統(tǒng)。

主要技術(shù)參數(shù)：

◆    測量范圍(XYZ)：標準：200×200×25mm；可選：300x300x25
◆    視場內(nèi)測量精度：10nm(100X 鏡頭)；Z軸聚焦范圍：25 mm
◆    視場內(nèi)測量范圍：0.5um~400um；
◆    視場內(nèi)測量重復(fù)性(100x 物鏡)：晶圓上<0.010um(1δ)；
                                                    掩模板上0.005um(1δ)；

◆ 承重：2kg

◆ 標配鏡頭10x，可選鏡頭：5X, 20X, 50X, 100X

維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀

MicroLine 300 is a table type semi-automatic CD measurement system .

The main technical parameters :

◆ X,Y,Z Measuring Range (mm): standard :200x200x25 optional : 300X300x25

◆ The field measurement accuracy ：10nm （100X lens ） Z Foucsing Range (mm) : 25

◆ The field measurement range ：0.5um~400um；

◆ The field measurement repeatability （100X lens）：on wafer < 0 0.010m(1δ)；

on mask plate 0.005um(1δ)；

◆ Max Recommanded Load : 2kg

◆ Lens ： standard ：10X

optional ：5X，20X，50X，100X。

維修美國MicroLine高精密光學影像測量儀

MicroLine 系列主要用于測量半導體、MEMS 晶圓、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多層套刻、圓、對接誤差等)量測。
MicroLine 臨界尺寸測量系統(tǒng)設(shè)計應(yīng)用于半導體和MEMS晶圓以及光掩模CD量測。Microline 系列可自動測量線寬，迭置重合，和其他關(guān)鍵尺寸。

MicroLine 裝備有高性能光學顯微鏡，高精度運動平臺，可測量0.5 微米到400 微米大小的產(chǎn)品，測量精度和重復(fù)性在10nm （1 σ ，100倍物鏡）。