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環(huán)保APP正式上線

超聲波試塊 - NB/T47013-2 超聲波檢測(cè)設(shè)備

參考價(jià)640.00-960.00
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱山東正義檢測(cè)科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)CSK-IIA系
  • 所  在  地濟(jì)寧市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/5/26 14:19:35
  • 訪問次數(shù)1555
產(chǎn)品標(biāo)簽:

超聲波試塊CSK-III試塊

規(guī)格
CSK-IIIA試塊960.00元1000 件可售
翻轉(zhuǎn)架660.00元1000 件可售
普通牌640.00元999 件可售
在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品 進(jìn)入展商展臺(tái)

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山東正義檢測(cè)科技有限公司是一家集科、工、貿(mào)于一體的專業(yè)無損檢測(cè)器材及理化設(shè)備供應(yīng)商。


公司致力于做好酷目膠片,恒溫洗片機(jī),東岳超聲波試塊,手持式紫外線探傷燈、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、X射線探傷機(jī)、觀片燈、黑白密度計(jì)、全自動(dòng)洗片機(jī)、膠片烘干箱、里氏硬度計(jì)、超聲波探頭的基礎(chǔ)上,還代理了國(guó)內(nèi)外的相關(guān)儀器,并擁有國(guó)內(nèi)眾多工業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)品的中國(guó)區(qū)代理權(quán),為國(guó)內(nèi)企業(yè)客戶提供高性能的國(guó)產(chǎn)及進(jìn)口工業(yè)設(shè)備。




超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、X射線探傷機(jī)、觀片燈、黑白密度計(jì)、全自動(dòng)洗片機(jī)、膠片烘干箱、里氏硬度計(jì)、超聲波探頭等理化檢驗(yàn)與其他檢測(cè)
測(cè)量范圍 6mm~200mm 加工定制
該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì),適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表:
超聲波試塊 - NB/T47013-2 超聲波檢測(cè)設(shè)備 產(chǎn)品信息

CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無損檢測(cè)超聲波探傷

該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì),適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表:

縱波靈敏度設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中g位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,。探頭置于示意圖中h位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中L位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線,此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。CSK-ⅡA-1#測(cè)試方法:(1)橫波靈敏度的設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。

CSK-ⅡA-2#測(cè)試方法:1)橫波靈敏度的設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。探頭置于示意圖中g(shù)位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第七點(diǎn)。探頭置于示意圖中h位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第八點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第九點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第十點(diǎn)。將以上十點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。

試塊
CSK-IA
試塊支架
CSK-IA
試塊翻轉(zhuǎn)架
CSK-IA
試塊
CSK-ⅡA
試塊
CSK-ⅢA
試塊翻轉(zhuǎn)架
CSK-ⅢA
試塊
CSK-ⅢA
試塊
CSK-IVA
超聲波試塊
CSK-IIAm
GS標(biāo)準(zhǔn)試塊
 
試塊
CSK-IB
試塊支架
CSK-IB
試塊
RB-1
試塊
RB-2
試塊翻轉(zhuǎn)架
RB-2
試塊
RB-3
試塊翻轉(zhuǎn)架
RB-3
試塊
RB-T
試塊
RB-Z
小徑管試塊
DL-1
小徑管試塊
DL-1
平面對(duì)比試塊
 
曲面對(duì)比試塊
 
荷蘭試塊
V-1(IIW1)
試塊支架
V-1
牛角試塊
V-2(IIW2)
靈敏度試塊
CS-2
超聲波試塊
CS-1-5#
超聲波試塊
LA-1
超聲波試塊
LA-2
試塊
SD-I
試塊
SD-IIa、b
試塊
SD-III
試塊
SD-IV
試塊
TP-1
試塊
TP-2
試塊
TP-3
半圓試塊
SH-1
靈敏度試塊
CS-1
護(hù)環(huán)試塊
A
石油標(biāo)準(zhǔn)試塊
SGB1#-6#
階梯試塊(射線用)
 
鋼網(wǎng)架試塊
CSK-IC
鋼網(wǎng)架試塊
RBJ-1
螺栓試塊
LS-1
螺栓試塊
LS-2
TOFD對(duì)比試塊
T=15mm
TOFD對(duì)比試塊
T=21mm
TOFD對(duì)比試塊
T=30mm
TOFD對(duì)比試塊
T=43mm
TOFD對(duì)比試塊
T=62mm
TOFD對(duì)比試塊
T=88mm
TOFD對(duì)比試塊
T=122mm
TOFD對(duì)比試塊
T=160mm
TOFD對(duì)比試塊
T=203mm
TOFD對(duì)比試塊
T=250mm
TOFD對(duì)比試塊
T=300mm
TOFD對(duì)比試塊
T=350mm
TOFD對(duì)比試塊
T=400mm
盲區(qū)試塊
T=40mm
盲區(qū)試塊
T=60mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=15mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=21mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=30mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=43mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=62mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=88mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=122mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=160mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=203mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=250mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=300mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=350mm
TOFD模擬焊縫試塊
T=400mm

 

 

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