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膜厚測量系統 測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱秋山科技(東莞)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號F20
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質經銷商
  • 更新時間2024/3/20 10:32:29
  • 訪問次數1653
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秋山科技(東莞)有限公司是一家專業從事日本進口色選機,碾米機(胚芽米機、精米機),農業用測定儀器(食味計、白度計、水分計、谷粒判別器),物性測定儀器,食品分析儀器,質構儀,流變儀,硬度計,光學儀器,人工太陽能燈等等銷售的科技型公司。秋山科技----世界分選產業*者,為眾多領域提供適合您的的色選機而努力。 秋山科技不僅僅是色選機的專業銷售商,更是一家色選領域技術創新的*。秋山科技擁有*的食品色選技術(高級異物檢驗、生物特性、葉綠素含量、損壞、水分含量、霉菌毒素、異物、小斑點、細微色差、細微瑕疵),透明塑料粒子色選技術(篩選塑料粒子黑點和變色異物、可以篩選的原料及異物舉例PET, PBT, POM, PS, PP, PA, PC, ABS, PBT, PE, PPS, PVA, SAP)。



農用機械,設備/物性測定儀器/食品分析儀器/光學儀器/人工太陽能燈
測量范圍 1 類型 數字式
日本filmetrics膜厚測量系統F20
一種行業標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統,已在安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發到制造現場在線測量的廣泛應用。
膜厚測量系統 測厚儀 產品信息

日本filmetrics膜厚測量系統F20

一種行業標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統,已在安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發到制造現場在線測量的廣泛應用。
F20基于光學干涉法可在1秒左右輕松測量透明或半透明薄膜的膜厚、折射率和消光系數。
它還支持多點在線測量,并支持RS-232C和TCP/IP等外部通訊,因此可以通過PLC或上位機進行控制。

主要特點

  • 支持廣泛的膜厚范圍(1 nm 至 250 μm)

  • 支持寬波長范圍(190nm 至 1700nm)

  • 強大的膜厚分析

  • 光學常數分析(折射率/消光系數)

  • 緊湊的外殼

  • 支持在線測量

日本filmetrics膜厚測量系統F20

主要應用

平板單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學膜等。
半導體抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等
光學鍍膜防反射膜、硬涂層等
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等
砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等
醫療的鈍化、藥物涂層等

產品陣容

模型F20-UVF20F20-近紅外F20-EXRF20-UVX
測量波長范圍190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm380 – 1700nm190 – 1700nm
膜厚測量范圍1nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 250μm15nm – 250μm1nm – 250μm
準確性*± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米
測量光斑直徑支持高達1.5 毫米或 0.5 毫米
小 0.1 毫米(可選)
光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素

* Filmometry 提供的測量 Si 基板上的 SiO2 膜時器件主體的精度。


關鍵詞:電池
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