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薄膜測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京美亞先科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號MP-20
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2021/8/25 18:10:57
  • 訪問次數227
產品標簽:

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  北京美亞先科技有限公司(Beijing Meiyaxian Technology Co. Ltd)簡稱美亞先科技,自從2009年成立之初就一直致力于將歐美和亞洲的*技術與產品擇優引入中國市場,通過學習、消化、吸收的工藝技術,嘗試、引進、共享這些高科技產品帶來的益處,并促其在廣袤的中國市場上扎根發芽、開花結果、發揚光大。為中國經濟的騰飛發達,出一份綿薄之力。故此,融合○共享○發揚成為北京美亞先科技有限公司成長壯大深層次的文化理念。  北京美亞先科技有限公司積極服務于科研教育、計量校準、車輛檢測、數據采集、顯微分析、工、工業控制與自動化等多個行業,產品線包括:● 探針臺系列用于半導體特性分析與設計測試等的各式探針臺及其配套產品,包括探針臺臺體、探針座、探針夾具/線纜、探針及顯微鏡、真空泵、視像采集、防震桌、屏蔽箱、溫度或磁場控制裝置等,細分品類有上百種之多。適合于晶圓測試,器件失效分析/可靠性分析,材料特性分析,光電器件與平板顯示器、射頻與微波器件、生物芯片、微納器件的物理化學特性測試以及半導體設計等多個領域?!瘛∮嬃啃氏盗惺〉丶壔虿块T行業的計量校準/質量檢驗院所,國內的企業級的計量校準實驗室,從達國家標準級的產品到適合企業使用的常規計量儀器都有覆蓋。包括電容標準和電容電橋系列;電阻標準、精密分流器和高壓分壓器系列;用于高溫和光譜輻射標準的高溫黑體爐和LP4/LP5高溫計系列;還有十進制電阻箱/電容箱/電感箱,多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現場校準儀器等?!瘛★@微分析系列除了可以提供金相顯微鏡、體視顯微鏡、ZOOM顯微鏡及視像采集CCD等配套產品外,還可提供包括用于三維(3D)形貌分析的激光共聚焦顯微鏡,適用于半導體晶元、微納米/MEMS器件、各種材料表面分析等領域;也可提供用于樣品材料化學成分分析、晶體結構、分子間相互作用、分子取向以及形貌特征等的便攜式拉曼光譜儀,適用于石墨烯、表面增強、食品藥品安全、寶玉石鑒定、生物物理化學材料分析等領域?!瘛】删幊屉娫聪盗械木堋⒖删幊屉娫醇半娮迂撦d全系列產品線,廣泛應用于多個工業領域的研發、自動測試設備(ATE)、過程控制、電源總線模擬及電源調節方面。包括直流臺式電源、直流機架式電源、直流模塊化電源、交流電源、交流/直流電子負載,覆蓋AMETEK、ELGAR、AMREL、Sorensen、California Instruments和Xantrex等世界?!瘛≤囕v檢測系列用于汽車(包括電動汽車)及其他車輛的檢測,包括車門關閉速度與能量測試系統(Door Speed)、引擎NVH檢測系統、馬達NVH檢測系統、無線引擎轉速計、CAN總線分析測試系統等,高性能硬件+方便易用的軟件構成完整的解決方案?!瘛祿杉c工業控制系列數據采集與工業控制簡稱數采與工控系列,包括應力應變量測系統、振動與加速度量測系統、多功能數據采集器(FleXense)、以及用于電動汽車、自行車齒片耐久性、CVT和引擎的動力計/測功機系統等?!瘛∑渌麥y試與測量系列  ? 通用的測量儀表如數字源表、SMU源測量單元、示波器等;  ? 專業的半導體特性分析儀、IV/CV/PIV分析儀;  ? 極弱信號測量儀器如靜電計/高阻計/微電流pA計、納伏表、微歐姆計;  ? 極微小物理/化學變化測量工具,高靈敏度+準度的電容電橋;  ? LED/OLED/LD/PD及LED照明產品的光色電測量系統;  ? LED/LD的老化與可靠性測試系統;  ? 四探針測量系統;  ? 變形IV/微力測試系統;  ? 射頻/微波網絡分析儀;  ? 負載牽引Load Pull系統;  ? 低溫膨脹計;  ? 納米微定位器/微注射器;  ? 電生理實驗室使用的拉針儀;  美亞先科技持續追蹤新的科技領域、前沿學科的動向,引入的產品線仍在不斷優化和擴充中。既可以直接在網站中按照產品分類進行查找、也可按照代理品牌或者應用方案分類來查找,以便我們的廣大客戶可以快速便捷地找到所關注的產品、應用等有價值的信息。為了增強用戶的產品體驗,在充分利用電話、網絡溝通工具解答產品信息、應用咨詢的基礎上,對主要產品我們還可以免費提供試用服務。  美亞先科技已經與多家跨國公司建立了良好的合作關系,成為多個公司在中國大陸、香港澳門市場的代理或代理,包括中國臺灣奕葉(EverBeing)探針臺系列;美國安登?海格林(Andeen-Hagerling)的電容標準與電容橋系列;美國歐姆實驗室(Ohm-Labs)的電阻標準/分流器/分壓器系列;美國Thermo Gauge的高溫黑體爐和輻射率測量系列;英國時代電子(Time-Electronics)的電阻箱/電容箱/電感箱、多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現場校準器系列;車輛檢測系列+數據采集與工業控制系列;韓國Nanoscope Systems的激光共聚焦顯微鏡系列+便攜式拉曼光譜儀系列;美國Sutter微操縱器/拉針儀系列;美國AMETEK可編程電源系列;美國Vektrex光電測試與老化系列;美國 GGB射頻微波(RF+MW)探針系列;美國Keysight/Agilent、Tektronix/Keithley、Tegam電子測量儀器系列等?! ∶纴喯瓤萍加邢薰究偛课挥诒本谏虾:蛷V州設有辦事處;在為廣大中國客戶帶來*的、性價比更高的產品的同時,更加積極地為客戶提供的服務,已經與多家公司合作建立了中國區技術支持與服務中心,解決相關的技術、應用、備品備件及維修等問題,我們為全部所售產品,提供完善的保修和售后服務,使您使用無后顧之憂。同時,基于多年的積累的經驗,也可為別的品牌提供維修與部件更換服務,包括但不限于 CASCADE、Micromanipulator、Signatone、儀準、展芯、鑫志尚/Semishare、Guildline等?! ∶纴喯瓤萍嫉募夹g人員,熱忱歡迎您通過網站、電子郵件、電話手機、微信、商橋等與我們聯系,促進并實現歐美和亞洲的*技術與中國市場的融合、共享與發揚的使命。
電子探針
MProbeVis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量
薄膜測厚儀 產品信息
MProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被MProbe Vis測厚儀測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)。
測量范圍: 15 nm -50um
波長范圍: 400 nm -1100 nm
MProbe Vis薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測量指標:薄膜厚度,光學常數
界面友好強大: 一鍵式測量和分析。
MProbe Vis薄膜測厚儀實用的工具:曲線擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測量,動態測量和產線批量處理。


性能參數:

基本規格
精度準確度穩定性光斑大小樣品尺寸
0.1Å or 0.01% (greater of)0.2% or 10A (greater of)stability 0.2A or 0.02% (greater of)2mm standard (optional to 20µm)from 4mm
s.d. of 100 thickness reading of 100nm SiO2/Si calibration samplefilmstack dependent2 sigma over 20 days (100 measurements daily) on 100nm/Si calibration sample  
 
系統參數
型號波長范圍(nm)光譜儀/探測器光源厚度
Vis400-1100Spectrometer F4/Si CCD 3600 pixels/ ADC- 16 bitTungsten-Halogen15nm- 75µm
UVVisSR200-1100Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-75µm
HRVis700-1000Spectrometer F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC- 16 bit /resolutionTungsten-Halogen1µm-400µm
UVVis-RT200-1000F4/Si CCD 2048 pixels/ ADC 16 bit/Optical Switch(Reflectance & Transmittance)Tungsten-Halogen1nm-75µm
NIR900-1700F2 Spectrometer InGaAs CCD 512 pixels: ADC- 16 bitTungsten-Halogen50nm- 85µm
VisNIR400-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and F2 InGaAs 512 pixels PDA) /ADC- 16 bitTungsten-Halogen10nm- 85µm
UVVis-NIR200-1700Two spectrometer channels/ detectors (F4 Si 3600 pixels CCD and InGaAs 512)/ ADC – 16 bitDeuterium/Tungsten-Halogen1nm-85µm
VisXT800-870F4 spectrometer/Si 2048 pixels CCDTungsten-Halogen10µm-1400 µm
 


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