(該網頁call非真實信息,如需了解詳情,請call:4001361036)
產品簡介 干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上,通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數等。也可用來檢測表面粗糙度,測量精度非常高,在一個波長內。一束光通過分光鏡,可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結合,就產生了干涉圖案。 與Mirau鏡頭比起來,Michelson鏡頭擁有更長的工作距離,更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。 |
應用范圍 用于三維表面形貌儀,表面輪廓儀,白光干涉顯微鏡等測量設備的鏡頭。 適用型號:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型號,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等幾乎所有的白光干涉原理非接觸式表面三維形貌測量儀。 |
型號類別 包含多型號: 2.5xNikon干涉鏡頭 5xNikon干涉物鏡 10xNikon白光干涉鏡頭 20xNikon非接觸干涉鏡頭 50xNikon相干測量物鏡 100x尼康 CF IC Epi Plan 鏡頭 |