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便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀 μ-X360s 便攜式x光檢測儀

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  • 公司名稱北京時(shí)代宏迪科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)μ-X360s
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/7/17 9:41:38
  • 訪問次數(shù)1351
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x射線應(yīng)力儀

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北京時(shí)代宏迪科技有限公司是一家從事銷售法國M2M優(yōu)異相控陣探傷儀,加拿大Eddyfi渦流陣列,脈沖渦流、英國TSC 的ACFM,英國silverwing 銀翼儲(chǔ)罐漏磁檢測儀,英國teletest FOCUS導(dǎo)波檢測系統(tǒng),加拿大inuktun 機(jī)器人檢測系統(tǒng)、 美國泛美-奧林巴斯檢測儀器、美國磁通的專業(yè)公司。我們代理的品牌有:法國M2M優(yōu)異相控陣探傷儀,加拿大Eddyfi渦流陣列,脈沖渦流、英國TSC 的ACFM,英國silverwing 銀翼儲(chǔ)罐漏磁檢測儀,英國teletest FOCUS導(dǎo)波檢測系統(tǒng),加拿大inuktun 機(jī)器人檢測系統(tǒng),奧林巴斯無損檢測(Olympus NDT)、美國磁通(Magnaflux)磁粉及滲透檢測設(shè)備、日本三豐(Mitutoyo)檢測設(shè)備等國際杰出品牌。多年來我們已經(jīng)為各種特殊行業(yè)提供檢測設(shè)備和技術(shù),比如說航空、石化、造船、冶金、鐵路和核工業(yè)、常規(guī)能源、兵器、電訊和研究機(jī)械以及大型基礎(chǔ)設(shè)施。材料檢測為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證,同時(shí)增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本,質(zhì)量保證確實(shí)對(duì)節(jié)約潛在成本提供了有價(jià)值的代價(jià)。按*優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個(gè)關(guān)鍵性的好處,提高生產(chǎn)效率,降低失效的危險(xiǎn)性,同時(shí)延長設(shè)備的使用壽命。 良好的聲譽(yù) - 努力工作的回報(bào),在此領(lǐng)域內(nèi)建立起了良好的聲譽(yù),并得到來自于中國、歐共體、美國、日本等同行的認(rèn)同。 豐富的經(jīng)驗(yàn) - 我們的銷售人員和技術(shù)人員都擁有多年的國內(nèi)銷售經(jīng)驗(yàn)和材料檢測領(lǐng)域方面的專業(yè)知識(shí)。 先鋒 - 自公司建立初期,北京時(shí)代宏迪科技有限公司就通過其高質(zhì)量的產(chǎn)品和上等服務(wù)成功地取得一致稱贊的良好聲譽(yù)。為維持在這方面的優(yōu)勢,我們將繼續(xù)把大部份收入進(jìn)行再投資,以提供**的良好使用性能的設(shè)備和專業(yè)的服務(wù)。 一體化服務(wù) 在您需要技術(shù)服務(wù)時(shí),我們敬業(yè)的工程師和技術(shù)人員將隨時(shí)準(zhǔn)備為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。 質(zhì)量控制 - 客戶有權(quán)了解我們公司出售的仕何設(shè)備都嚴(yán)格的遵循了國際質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),我們的供貨商全都獲得了ISO質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證。 法國M2M相控陣探傷儀、GEKKO32x128PR相控陣探傷儀、GEKKO64x64相控陣探傷儀、GEKKO64x128PR相控陣探傷儀,MANTIS相控陣探傷儀,CIVA無損檢測仿真軟件,GEKKO 64X128PR 相控陣探傷儀,PANTHER全聚焦相控陣探傷儀,Multi 2000系列、Multi X 系列、Multi X LF低頻高壓相控陣探傷儀。 美國泛美-奧林巴斯:超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、渦流探傷儀、渦流陣列探傷儀、霍爾效應(yīng)測厚儀、復(fù)合材料探傷儀。 美國磁通:磁粉探傷儀、滲透劑、熒光滲透劑。
電磁/電渦流測厚儀
相較于傳統(tǒng)的X射線殘余應(yīng)力測定儀,新一代μ-X360s具有以下優(yōu)點(diǎn):更快速:二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成測量,全過程平均約60秒。更:一次測量可獲得500個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更。更輕松:無需測角儀,單角度一次入射即可,復(fù)雜形狀和狹窄空間的測量不再困難。更方便:測量精度高,無需冷卻水,野外工作無需外部供電。
便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀 μ-X360s 便攜式x光檢測儀 產(chǎn)品信息
日本Pulstec公司制造    型號(hào):μ-X360s
   X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得*為廣泛、深入、成熟的內(nèi)應(yīng)力測量方法,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各領(lǐng)域。然而長期以來,大家使用的都是基于一維探測器的測量方法。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出世界基于全二維探測器技術(shù)的新一代X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n,將利用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了一個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界的廣泛好評(píng)。由于其技術(shù)之*、測試數(shù)據(jù)可重復(fù)性之高、使用之便攜,設(shè)備一經(jīng)推出便備受業(yè)界青睞! 近期,日本Pulstec公司成功克服技術(shù)難點(diǎn),發(fā)布了新的產(chǎn)品型號(hào):μ-X360s,將全二維面探測器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能完善再次升級(jí)!
 
   相較于傳統(tǒng)的X射線殘余應(yīng)力測定儀,新一代μ-X360s具有以下優(yōu)點(diǎn):
更快速:二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成測量,全過程平均約60秒。
:一次測量可獲得500個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更。
更輕松:無需測角儀,單角度一次入射即可,復(fù)雜形狀和狹窄空間的測量不再困難。
更方便:測量精度高,無需冷卻水,野外工作無需外部供電。
更強(qiáng)大:具備區(qū)域應(yīng)力分布測量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料織構(gòu)、殘余奧氏體分析等功能。
 
 
應(yīng)用領(lǐng)域 
 
 
1. 機(jī)械加工領(lǐng)域:測量機(jī)床、焊接、鑄造、鍛壓、裂紋等構(gòu)件的殘余應(yīng)力。
2. 冶金行業(yè):測量熱壓、冷壓、煉鐵、煉鋼、煉鑄等工業(yè)生產(chǎn)構(gòu)件的殘余應(yīng)力。 
3. 各種零配件制造:測量電站汽輪機(jī)制造、發(fā)動(dòng)機(jī)制造、油缸、壓力容器、管道、陶瓷、裝配、螺栓、彈簧、齒輪、軸承、軋輥、曲軸、活塞銷、萬向節(jié)、機(jī)軸、葉片、刀具等工業(yè)產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。
4. 表面改性處理:測量滲氮、滲碳、碳氮共滲、淬火、硬化處理、噴丸、振動(dòng)沖擊、擠壓、滾壓、金剛石碾壓、切削、磨削、車(銑)、機(jī)械拋光、電拋光等工藝處理后構(gòu)件中的殘余應(yīng)力。
5. 民生基礎(chǔ)建設(shè)領(lǐng)域:
(1)海洋領(lǐng)域:測量船舶、海洋、石油、化工、起重、運(yùn)輸、港口等領(lǐng)域設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力
(2)能源領(lǐng)域:測量核工業(yè)、電力(水利水電、熱電核電)、水利工程、天然氣工程等領(lǐng)域的設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力。
(3)基礎(chǔ)建設(shè)工程領(lǐng)域:測量挖掘、橋梁、汽車、鐵路、航空航天、交通、鋼結(jié)構(gòu)等工程領(lǐng)域所用材料、構(gòu)件及其它相關(guān)設(shè)備設(shè)施的殘余應(yīng)力。
6. 工領(lǐng)域:測量裝備、重型裝備等產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。
 
測試原理概述 
 
傳統(tǒng)的點(diǎn)/線探測器技術(shù)  全二維面探測器技術(shù)
——通過測量應(yīng)力引起的衍射角偏移,從而算出應(yīng)力大小。測量時(shí)需要多次(一般5-7次)改變X射線的入射角,并且調(diào)整一維探測器的位置找到相應(yīng)入射角的衍射角
——施加應(yīng)力后,通過測角儀得到衍射角發(fā)生變化的角度,從而計(jì)算得到應(yīng)力數(shù)據(jù)
——單角度一次入射后,利用二維探測器獲得完整德拜環(huán)。通過比較沒有應(yīng)力時(shí)的德拜環(huán)和有應(yīng)力狀態(tài)下的變形德拜環(huán)的差別來計(jì)算應(yīng)力下晶面間距的變化以及對(duì)應(yīng)的應(yīng)力
——施加應(yīng)力后,分析單次入射前后德拜環(huán)的變化,即可獲得全部殘余應(yīng)力信息
 
測試原理示意圖
 
 
 
基本參數(shù)
 
基本參數(shù)
準(zhǔn)直器尺寸 標(biāo)配:直徑1mm  被照射面積直徑約2mm
X射線管參數(shù) 30KV  1.5mA
X射線管所用靶材 標(biāo)配:鉻靶(可選配其他) 
是否需要冷卻水 無需
是否需要測角儀  無需 
X射線入射角度  單一入射角即可獲取全部數(shù)據(jù) 
所用探測器 二維探測器
直接測量參數(shù)  殘余應(yīng)力 衍射峰的半峰高全寬 
測量時(shí)間  60秒鐘 
電源參數(shù)  130W功率 110-240V 50-60HZ 
可否戶外現(xiàn)場檢測  可以 便攜、可電池工作 
          X射線殘余應(yīng)力分析儀(日本Pulstec制造,型號(hào)為μ-x360s)主要參數(shù)表
 
 
應(yīng)用軟件
1. 二維探測器獲取完整德拜環(huán),單角度入射,一次測量
2. 全自動(dòng)軟件測量殘余應(yīng)力,半峰寬,殘余奧氏體等數(shù)據(jù)
3. 內(nèi)在定位標(biāo)記和CCD相機(jī)方便樣品定位,操作極其簡單快捷 
4. 快捷進(jìn)入預(yù)設(shè)各種材料測量條件,一鍵執(zhí)行測量  
 
 
額外選件
1. 殘留奧氏體分析
用于提供自動(dòng)計(jì)算剩余奧氏體含量的軟件分析功能;增加該功能后系統(tǒng)軟件可以顯示在室溫下還沒有轉(zhuǎn)變的殘余奧氏體百分比含量
2. XY掃描控制臺(tái)
用于在平面內(nèi)X方向和Y方向的調(diào)節(jié)探測器位置,對(duì)樣品表面進(jìn)行殘余應(yīng)力面掃描,每一個(gè)方向的量程是20cm,調(diào)節(jié)精度為1μm
3. 電解拋光裝置
用電解拋光的方法去除金屬的表面逐層獲得下面金屬的殘余應(yīng)力情況
4. 振蕩單元裝置
用于粗晶樣品殘余應(yīng)力測試
5.用戶自己換靶
用戶可以自己更換X射線靶材以滿足更廣的測試材料需求,可換靶材包括:CrVCuCoMn 
 
 
 
 






關(guān)鍵詞:電池
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