MC022系列薄膜測厚儀
MC022系列(CH-1-S)
一、CH-1-S型薄膜測厚儀概述:
CH-1-S型薄膜測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。
二、CH-1-S型薄膜測厚儀主要參數:
1. 量程:0
2. 上測頭曲率半徑:15
3. 測頭對試樣施加負荷我:0.1-0.5N
4. 測量精度:100vm以內<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm