| 儀器名稱： | 場發(fā)射透射電鏡（TEM） | 型號： | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡 |
| 檢測項目： | 形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點掃、線掃、面掃） 明場、暗場 Mapping 球差電鏡 | ||
| 應(yīng)用范圍： | 可以對各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究，材料粒徑統(tǒng)計，晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進行研究，配合能譜儀可以對各種元素進行定性、及半定量的微區(qū)分析，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。 | ||
| 制樣要求： | 塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度為200nm以下; 粉末和液體樣品，要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥，粉末樣>0.01g,液體樣>5ml; 生物樣可做超薄冷凍切片制； 金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣； 離子減薄需要樣品機械磨樣到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷凍切片、FIB、鋨酸熏染制樣等需求可進一步咨詢。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。TEM測試要求模板（附本） 點擊下載
測試提示：
1.第三方檢測，可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
