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TFE000021 | X- 射線熒光能譜儀 | 美國賽默飛世爾 | ARL QUANTX EDXRF | TFE000021 | 面議 |
Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度,打破了1納米的檢測限瓶頸。專為滿足實驗室和制造環境中挑戰性的分析需求而設計,ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可提高各種元素分析應用的分析量。能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術可通過簡易的樣品制備,實現主量、次量和痕量元素分析,所分析樣品范圍廣泛,可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
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分析優勢: 探測器內部的-*技術 功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件 |
主要用途:
? 懸浮顆粒物過濾器
? 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
? 法醫及痕量分析
? 營養補充劑
? 磁性介質和半導體
? 土壤污染
? 過濾器上的薄膜
? 塑料中的有毒元素