產品介紹:
MWR-2S-3I是一款功能異常強大的無接觸少子壽命及紅外探傷綜合測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試。一方面，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過近紅外對硅材料的光學特性，探測缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。此設備是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業*的測量儀器。
MWR-2S-3I是一款功能異常強大的無接觸少子壽命及紅外探傷綜合測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試。一方面，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過近紅外對硅材料的光學特性，探測缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。此設備是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業*的測量儀器。
產品特點
■系統功能強大，少子壽命及缺陷同時測量
■無接觸和無損傷測量
■自動測量，具有傳送系統，可進行連續測量
■快速測量，測試掃描速度達到2000mm/min
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等
■應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等
■ 性價比高，*程度地降低了企業的測試成本
■可以在線實時對產品監控
*工作條件
■溫度：18-26℃
■濕度：10%~80%
■大氣壓：750±30毫米汞柱
■濕度：10%~80%
■大氣壓：750±30毫米汞柱
技術指標
■主機尺寸：63cm * 36cm *59cm
■測試尺寸:190mm*190mm*500mm
■測試掃描速度:2000mm/min
■ 電阻率范圍：>0.5Ω.cm
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■儀器測試精度：±3.5％，信號處理偏差≤2％
■少子壽命測試范圍:0.1μs-30ms
■ 少子檢測激光波長：975nm,測試功率范圍：50-500mw
■紅外波長：2300nm,測試功率范圍：50mw
■紅外探傷可分辨zui小尺寸：0.1mm
■微波工作頻率：10GHz±0.5
■微波測試單元功率：0.01W±10%
■電源：～220V 50Hz 功耗＜160W
■主機重量：32KG
典型客戶
德國，瑞士，美國，日本，俄羅斯及國內河北，江西，江蘇，浙江，廣西，上海，遼寧等地拉晶鑄錠客戶。
