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XAU-4C X熒光光譜分析儀 全元素成分檢測 涂鍍層元素測量

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  • 公司名稱福建赫鑫科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地福州市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2022/9/26 15:32:25
  • 訪問次數202
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性能優勢:1.微小樣品檢測:最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量
XAU-4C X熒光光譜分析儀 全元素成分檢測 涂鍍層元素測量 產品信息

性能優勢:

1.微小樣品檢測:最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)

2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm

3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

4.*的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。

5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。

6.X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。

核心的EFP算法

專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上,多元迭代開發出EFP核心算法,結合*的光路轉換的技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統,只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。















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