日本advance riko熱電阻評價儀ZEM-3系列
這是一種同時測量熱電材料的熱電率(塞貝克系數)和電導率的裝置。我們準備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器,操作簡單。
用途
半導體,陶瓷,金屬等廣泛材料的熱電特性評價。
特長
采用溫度可控性優異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測量由計算機控制,可以在規定溫度下對各溫差進行測量,也可以消除暗電動勢等自動測量
標配自動歐姆接觸檢查(V-I圖)
可選附件可用于測量薄膜
可定制為高電阻
標準
熱電能JIS R 1650-1
電阻率JIS R 1650-2
仕様
型式 | ZEM-3L | ZEM-3LW | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 | ZEM-3HR |
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溫度設定范圍 | 測量溫度步長和溫差步長125 | ||||
溫度范圍 | -80?100℃ | -100?200℃ | 50?800℃ | 50?1000℃ | 50~800℃/1000℃ |
樣品尺寸 | 角或,φ2~4mm×長5~22mm | ||||
測量氣氛 | 低壓He氣體中(大氣中) | ||||
電阻測量范圍* | 50μΩ~ 100kΩ | 50μΩ~ 10MΩ |
測量原理
電阻測量采用直流四端法,通過在樣品兩端施加恒定電流I,測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV,并去除引線之間的熱電動勢來確定。
P型Si80Ge20燒結體的測量實例
提供數據:工業科學技術研究所能源技術研究部熱電轉換小組
日本advance riko熱電阻評價儀ZEM-3系列