產品描述
一次測量的質量,主要由幾個關鍵因素決定。包括:選擇適當的探頭和探頭本身的質量等。 Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質的高精度探頭,所有探頭都是按照很高的品質要求自行開發和生產。
鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據。另外,鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。曲率補償探頭(渦流法)適用于不同曲面的樣品;雙觸點探頭能夠在粗糙的表面上得到精確的結果。 FMP1、 FMP20、 FMP30、 FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。
| 主要應用: ※測量范圍從納米級到毫米級不等 ※磁性底材上的非鐵磁性涂鍍層 ※導電非鐵磁性底材上的非鐵磁性和非導電性涂鍍層 ※各種底材上的導電性涂鍍層 ※非鐵磁性導電底材上的鐵磁性涂鍍層 ※非鐵磁性材料的電導率測量、材料特性測試, ※如:微觀結構以及由熱損傷或材料疲勞導致的材料性能轉變 ※奧氏體鋼和雙相鋼上的鐵素體和馬氏體含量測試 |
為了獲得準確的結果,測量探頭必須具有適合各種應用的某些特殊性能。選擇合適的探頭對測量結果的質量有很大影響,因為它是傳輸實際測量信號的途徑?;谠谥T多領域中數十年的經驗,FISCHER針對接觸式測量技術打造出了豐富的高品質探頭產品,適用于涂鍍層厚度測量和材料測試。
探頭特性:
對于探頭的選擇,我們建議您選擇適合您應用的探頭,您可以索取《探頭與配件》樣本來了解更多關于探頭的信息。