英國泰勒霍普森CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀詳細介紹:
無論測量的是何種元件,無論對分析速度的要求有多高,我們創新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI MP-HS極大地擴展了分析能力,同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和,CCI MP-HS可輕松地整合到您的質量管理系統中。
- 1048 x 1048像素陣列,視場廣,高分辨率
- X、Y、Z拼接,擴展量程
- RMS重復<0.2 埃,階躍高度重復<0.1%
- 整合抗振,優化抗噪性能
- 多語言版本的Windows,64位軟件