日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創新永無止境!
ZA3300系列是一款新型火焰原子吸收分光光度計,在確保基本性能(例如:高精度和高靈敏度)的前提下,采用其他原子吸收分光光度計無法實現的技術,提升其性能和可靠性。
特點:
基本性能提升
190nm~900nm全譜采用塞曼背景校正技術,可扣除所有背景干擾(包含結構背景)
全時雙光束技術,樣品信號和參比信號同時檢測,可獲得穩定基線(±0.0004Abs)
操作簡便可靠
“提升的基本性能”和“新增功能”的實現是基于日立原子吸收分光光度計的直流偏振塞曼校正技術。
所有元素都可實現高可靠性的背景校正,用戶可通過軟件實現相應分析。
分析實例:
火焰法分析糙米中的鎘
偏振塞曼校正法的基線穩定性高,即使當糙米中的鎘濃度低于0.4 ppm時,也可以采用火焰分析法。
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