適用于DDR3 DDR4 DDR5
用于芯片的快速驗(yàn)證,測(cè)試.
適用于手測(cè)
有探針和導(dǎo)電膠2種導(dǎo)電結(jié)構(gòu)選擇
導(dǎo)正框可更換,多種尺寸兼容
提供8位及16位的測(cè)試治具
測(cè)試座材料: Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料: AL,Cu,POM
探針類型: 彈簧探針/導(dǎo)電膠
工作溫度: -45 ~ 125度
探針壽命: 30萬次
彈簧彈力: 20g ~ 30g per Pin
電流: 1A ( 電阻: 50mΩ
頻寬: > 3.6GHZ @-1db
DDR內(nèi)存條測(cè)試座
適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測(cè)試
用于芯片的快速篩選,驗(yàn)證,測(cè)試,
采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu),操作方便高效.
測(cè)試不同尺寸的顆粒,更換限位框即可
可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
探針可更換,維修方便,成本低
DDR內(nèi)存條測(cè)試座
適用于DDR3,DDR4內(nèi)存條顆粒測(cè)試
用于芯片的快速篩選,驗(yàn)證,測(cè)試,
采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu),操作方便高效.
測(cè)試不同尺寸的顆粒,更換限位框即可
可選探針和導(dǎo)電膠結(jié)構(gòu)
探針可更換,維修方便,成本低