S8 TIGER 波長色散X射線熒光光譜儀 核心參數
- X射線光管功率4kW
- 分析元素種類4Be-92U
- 儀器種類掃描型
- 產地類別進口儀器
S8 TIGER專業的解決方案
推出的S8 TIGER系列介紹
自上世紀60年代德國西門子推出一臺全封閉型的X射線熒光光譜儀(XRF)以來,已經有近50年的商業化進程。布魯克AXS公司(前身是德國西門子公司的X射線分析儀器部)一直堅持專業化的道路,著X射線分析技術發展的潮流。根據的技術和對用戶需求的深入了解,圍繞分析測試任務的核心整體設計儀器和功能。時至今日,S8 TIGER在靈敏度、準確度、精密度、安全性、可靠性、操作簡便性、分析速度、功能完備的分析軟件等方面,把XRF分析技術又一次推向全新的歷史階段。
S8 TIGER是布魯克AXS公司全新設計的波長色散X射線熒光光譜儀,采用了當前的固態發生器、的超高電流X射線光管、當前的電子技術全新設計的電路板、全新技術的超高速光學定位測角儀、全新開發的高強度晶體等,使X射線熒光光譜儀對元素的分析產生了突破,S8 TIGER又一次站在了X射線熒光儀技術的。
一、高靈敏度、高準確度及高精密度
l的光路設計
陽極—樣品—探測器之間距離最短,信號損失最少,保證了高靈敏度。
l高穩定性的固態發生器
采用模塊化設計的固態發生器,穩定性優于±0.00005%,可靠性好。有1kW、3kW和4kW三款,滿足不同的應用要求。
S8 TIGER 1K,激發電流50mA,激發電壓50kV,同級別中強度。配有內部水冷機,不需要外部水冷機,插上電源就可以使用。
S8 TIGER 3K,激發電流150mA,激發電壓60kV,強度上堪比傳統的4kW熒光儀。
S8 TIGER 4K,激發電流170mA,激發電壓60kV,市場上的熒光儀。
l低溫X射線光管
超尖銳端窗陶瓷光管,170mA超高電流,大大提高輕元素的分析能力。電流越高,對輕元素的計數率越高,信噪比越好,靈敏度也就越高,分析的準確度也就越高。的兩路水冷系統冷卻光管,除陽極冷卻外,光管頭部增加特殊冷卻回路,避免蒸鍍現象,光管強度不衰減;避免光管熱量對樣品的影響,提高易揮發元素測量的穩定性,避免低熔點樣品表面變形而降低結果精密度。提高了分析液體樣品、低熔點樣品的安全性,對于大體積、易吸熱的樣品(如金屬樣),樣品不會變熱。
標配75 μm鈹窗,可選50 μm鈹窗,輕元素強度提高15%,鈹窗上有保護性涂層,耐腐蝕。
l高靈敏度、高穩定性的分光晶體
采用超靈敏的XS系列人工合成晶體,大大提高了輕元素的檢測能力,其中:
XS-B晶體提高B元素分析靈敏度99%;
XS-C顯著地降低了背景,提高信噪比30%;
XS-55晶體對O、F、Na、Mg元素的靈敏度也比常規的晶體提高了10%以上;
XS-400晶體與LiF200晶體覆蓋的元素相同,但是靈敏度提高了35%;
所有的XS-CEM人工多層膜晶體,測量Al—S間元素具有無以匹敵的長期穩定性,沒有PET晶體的潮解現象,沒有PET晶體隨著時間的推移強度降低的現象,沒有其它天然晶體的溫度效應。是水泥、玻璃、礦物、采礦、地質、鋁業等領域測量主含量Al、Si的晶體;
XS-Ge-C鍺彎晶提高P—Cl之間元素的靈敏度40%;
XS-PET-C彎晶可顯著提高Al—S的靈敏度。
l高透光性的真空封擋
在測量液體樣品和松散粉末樣品時,程序控制的真空封檔將樣品室和光譜室分開,允許在固體和液體樣品的分析之間快速地切換。由于只有很小的樣品室充氦氣(氮氣),真空封擋顯著地降低氣體消耗量,同時探測器的穩定性更高,結果的精密度更好。在測量過程中,的真空封擋也可以在液體樣品泄漏或有粉塵樣品時保護光譜室,防止被污染。真空封擋是S8 TIGER的樣品保護TM包的一部分。
l高精度光學定位測角儀
采用衍射儀專業技術的高精度光學定位測角儀,定位精度高,測角儀直接到達預設角度,快速連續前進,無需反復調整,長期運行沒有磨損。角度準確度優于±0.001°,角度重現性優于±0.0001°。
l所有的變動理論α系數法
采用基本參數法單獨地計算每一個樣品的校正系數,從而進行全面的集成的基體效應校正,這就是變動理論α系數法。其的優點是:需要的標樣量少、校正系數更可靠、校準曲線可以適當延伸、操作方便、不需要很多的經驗來選擇影響元素、對于大的材料范圍和很寬的濃度范圍都可以得到可靠的結果。同時兼容固定理論α系數法、經驗α系數法基體效應校正,三種校正模式也可以混合使用。對于固定理論α系數法、變動理論α系數法、經驗系數法及混合校正方法只需一個用戶界面解決所有問題,非常易于使用。
l動態匹配TM功能
所有的動態匹配TM功能,軟件自動降低電流,使高含量元素的計數不超過探測器的物理限制,使測量更準確。低含量元素自動在滿功率條件下測量,使痕量元素也能準確的測量。采用動態匹配功能探測器的線性范圍可以達到10Mcps以上。動態匹配功能可以采用相同的譜線分析樣品中從痕量到99%含量范圍的成分。系統會自動調節電流保證探測器工作在線性范圍內。分析含量在ppm水平(每秒只有幾個光子的計數)到99%(每秒有上千萬光子的計數)的樣品,不需要作進一步的調整。動態匹配功能確保每一元素都在條件下測量,從而實現非等功率動態自由切換。
l角度偏移校正
校正價態、礦源差異等引起的峰位位移,測量結果更準確。技術
l幾何校正
通過直徑–厚度–密度、直徑–厚度–質量或直徑–質量–密度三種樣品制備選項對未達到X射線穿透飽和深度的樣品進行幾何校正,從而得到更準確的測量結果。技術
l新月效應校正
液體樣品通常表現出新月效應:液體表面是凹的不是平的,在計算組成的時候將產生誤差(樣品高度不對),增加新月效應校正功能可消除此誤差。
l制樣校正軟件
對用熔融制樣或粉末樣需加粘合劑的制樣方法,采用任意配比、隨意稱量、準確輸入的方法,稱樣誤差小,稱樣速度快,不同的制樣方法可以共用同一工作曲線。技術
lP10氣體密度穩定器
在P10氣體鋼瓶與流氣正比計數器之間安裝有氣體密度穩定器,使探測器里的氣體密度始終保持恒定,保證測量結果精密度更高。流氣計數器采用數字式壓力控制,控制更精密。
l高穩定性的光譜室
光譜室溫度穩定性優于±0.05℃,避免了溫度變化引起分光晶體的面間距變化,從而引起被測量元素光子衍射角度的變化。
l采用真空度控制測量
對于固體樣品,采用真空度控制測量,只有達到預設的真空度才開始測量,避免吸潮樣品在抽真空初始階段,真空度的不一致引起強度計數的差異。
二、高安全性、高可靠性
l樣品保護?功能,四重保護,保證儀器長期可靠運行
?在樣品進入和退出樣品室時采取的保護,使儀器的故障率,維護成本最少
?兩個污染防護屏,分別保護光管和光譜室
?粉塵接收盤,收集掉落下來的樣品顆粒
?測量過程中的保護
?光管保護屏DuraBeryllium? 高強度鈹窗,保護光管窗口
?的高透光性真空封擋保護光譜室
l原位進樣系統
S8 TIGER采用了直接進樣技術,即樣品直接裝入到儀器的測量位,保證樣品到光管的距離不會變化。采用這種直接進樣方法的樣品室可以設計得很緊湊,又保證了抽真空和充氦氣的快速可靠。傳統的光譜儀使用樣品轉臺系統來進樣,轉臺上的2個位置經常會出現位置不準的問題,光管到樣品的距離的細微變化都會降低分析精度,這時就需要維修,或放棄樣品轉臺的第二個位置。同時這種設計不可避免地擴大了樣品室的體積,增加了進樣機械裝置高精度直接進樣—樣品定位沒有公差
的復雜性。直接進樣系統在進樣和出樣過程中,光管的高壓關閉,是沒有X射線的。在執行這些操作時,
光管的燈絲加熱電流一直是通的,維持光管的穩定性。
?直接進樣代替分步進樣,機械結構簡單,。
?避免樣品在儀器內部過多的運動,避免粉塵積聚、液體側翻的風險。
?清洗樣品室簡單,不需要打開儀器,易于維護。傳統的兩位轉臺結構—樣品定位有公差
?進樣速度快。
l等級密碼保護功能
對不同的人給予不同的用戶許可權,對曲線參數、數據庫、譜線庫、儀器參數等加以保護。
l雙計算機控制系統。
日常的分析采用觸摸屏控制,保證操作簡單而無失誤,即使在惡劣的環境中儀器也能正常工作。對于應用開發、校正曲線回歸、擴展評估等,通過另外一臺計算機完成。兩臺計算機都可以完成日常分析控制,即使一臺出現問題,也不影響測量工作。
l全新設計的安全回路電路板
全新設計的安全回路電路板、電源輸入輸出板、通用馬達驅動板、4軸板等,儀器的運行更可靠。
l觸屏控制?
觸屏控制是第二個獨立控制單元,保證儀器操作簡單無誤。
l防塵設計
防塵設計機柜,儀器整體密封,箱體內采用循環水冷卻,避免了風冷容易在電路板上帶來粉塵的缺點,儀器內部恒久保持潔凈,可以在任何惡劣的環境下長期正常工作。
l產品認證
經過德國第三方檢測機構對技術指標、輻射保護、電器安全的嚴格測試,符合德國DIN54113射線防護和CE電器安全等“產品認證”,是德國政府核準的定型儀器。
三、操作
l觸屏控制?
?直觀的觸摸屏,操作簡單,無需培訓,僅需三步就可以得到準確的結果.
?實時顯示及查找以前測試結果
?S8 TIGER實時狀態顯示
?在線幫助功能
?中文操作軟件,在線的多語言界面自由切換
l快速的符合人體工程學的樣品裝載
?帶有托盤的自動進樣器,裝樣簡單
?各種進樣器供選擇
?帶樣品杯的
?直接吸樣的
?鋼環的
四、非常快的分析速度
l非常快的分析速度基于:高強度的X射線光管、快速運行的電子電路板、快速的內部通訊
在保證分析精度的前提下,根據元素的含量不同,每個元素的測量時間在2-10秒鐘。例如水泥樣品中10個元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3),從放入樣品到顯示結果不超過2分鐘,分析速度可以和多通道熒光儀相媲美,而分析的靈活性是多通道熒光儀所不具備的。
五、功能完備的分析軟件
lSPECTRAplus V3定性、定量分析軟件
SPECTRAplus V3是專為S8 TIGER開發的功能強大的現代分析軟件。SPECTRAplus V3包括了定性、定量分析的所有功能,運行在Windows 7環境。SPECTRAplus V3為簡單、快速的操作而特別開發的,支持S8 TIGER的的TouchControlTM觸屏控制的全部功能。
SPECTRAplus V3支持網絡功能,用網絡中的任何計算機都可以實現全部的分析功能,如分析曲線開發、無標樣評估、數據報表。網絡計算機的數量沒有限制。
SPECTRAplus V3定性分析軟件具有交互及自動尋峰以及元素識別功能、自動背景扣除與平滑、高分辨顯示樣品譜圖、坐標軸變換、自動提醒干擾譜線等功能。
SPECTRAplus V3定量分析軟件具有集成的智能專家系統,確保用戶充分利用S8 TIGER的分析性能創建用戶自己特殊應用。分析曲線的自動導航功能從材料的定義到結果的輸出,引導用戶一步步完成,從天就可以完成高質量的分析。可以靈活的輸入制樣參數及任何可用的化學信息。采用基本參數法進行一體化的基體校正(變動“理論α系數法”,計算每一個樣品的校正系數),也可以采用理論系數法與經驗系數法相結合的固定α系數法進行強度及強度/濃度混合模式的基體校正。用圖形顯示測量強度、校正強度及背景強度。用戶可以結果輸出格式,非常容易地編輯成報告格式。分析結果超出警戒線會自動顯示與報警。全局或漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期檢查儀器,滿足GLP要求。在線統計分析。
SPECTRAplus V3漢化,所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持與英文版同時升級,可以隨時切換成中文、英文、法文等界面。
lQUANT EXPRESSTM無標樣軟件包
QUANT EXPRESSTM允許在沒有標準曲線的情況下對未知的樣品進行自動分析。
QUANT EXPRESSTM提供了無以匹敵的分析靈活性。可以在2分鐘之內采用掃描模式進行無標樣分析,也可以對痕量級的元素進行準確測定。根據用戶的需求,QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互評估的掃描測量模式,也可以提供峰/背比測量模式。
QUANT EXPRESSTM是一體化分析智能的一部分。可以執行自動尋峰、元素與峰的識別、經背景與譜線重疊校正之后凈強度的精確測定。SPECTRAplus軟件中的強大的變動α系數法基體校正功能,自動執行基體校正及不同類型樣品(薄膜、無限厚或非無限厚樣品)的校正。用戶輸入的樣品的特性、已知元素的濃度和基體成分都可以集成到一起,進一步提高分析結果的準確度。
QUANT EXPRESSTM也可以用于用戶特定的標準曲線中,采用變動α系數法測定沒有標樣的元素。它是SPECTRAplus集成部分,作為專家系統提供任何應用的譜線設置。
lS8 TOOLS診斷、維護和服務軟件
的診斷、維護和服務軟件包,允許直接控制和檢查S8 TIGER的所有部件,確保儀器的控制和分析非常容易。操作過程中的故障很容易識別和消除,確保操作簡單、維護方便及長時間正常運行。運行在Windows界面下的自診斷軟件,非常直觀,可以全面監測系統的幾百種狀態,您可以將整個狀態存盤,給維修人員,從而可有效降低維修費用,縮短維修時間。
lPC-Anywhere遠程服務-維護-支持軟件
PC-Anywhere軟件允許Bruker AXS專家通過網絡進行遠程支持,使S8 TIGER達到可用性。
l專業解決方案軟件包
·ML PLUS多層膜分析軟件:采用*的基本參數法,具有吸收法和發射法兩種分析模式;薄層分析采用發射法,厚層分析采用吸收法(準確度更高)。在建立薄膜樣品模型的基礎上可對鍍膜樣品進行無標樣分析。同樣適用于有標樣的定量分析,結果的準確度和精度更高。分析多達15層(每層16個元素)的鍍膜樣品,測定每層膜的厚度和元素含量。
·PETRO-QUANT軟件,配有特定類型樣品數據庫,可以對油品、塑料、橡膠、聚合物等樣品中的30個元素進行優化的無標樣定量分析,以及預定義的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和預校準分析曲線。為用戶提供交鑰匙方案,儀器安裝后可以按照國際標準方法立刻進行常規分析。
·GEO-QUANT M氧化物分析軟件,是地質、礦物、采礦、耐火材料、玻璃與陶瓷業的解決方案,采用熔片法制樣,可以分析氧化物中主、次元素。
·GEO-QUANT T軟件,基于數百個國際參考樣品建立的校準曲線,測量地質樣品中微量、痕量元素,是地質方面的研究、監測、環保等全面解決方案。
·CEMENT-QUANT軟件,采用國際標樣建立的水泥工業完整的解決方案,可用于生料、水泥、熟料及采石廠來料中14個元素快速、簡單、精密的定量分析。
·METAL-QUANT軟件,金屬材料的解決方案,可以分析鐵基、鈷基、鎳基、銅基、鉛基、錫基中23個主、次及痕量元素。
POLMER-QUANT軟件,用于分析聚合物中的微量和痕量成分。