集成電路工程化量產(chǎn)測試可加急檢測服務范圍
集成電路:微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA,驅(qū)動芯片、監(jiān)控芯片、電源類芯片等
檢測標準
● GJB 597B-2012半導體集成電路通用規(guī)范
●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規(guī)范
● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造廠認證用半導體集成電路通用規(guī)范
● 行業(yè)規(guī)范:MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制標準:產(chǎn)品?冊、詳細規(guī)范、測試方案
檢測項目
FT工程化 | 測試方案開發(fā)與測試平臺選型; |
FT量產(chǎn) | ?次篩選 |
應用驗證 | 項目驗收測試 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
集成電路工程化量產(chǎn)測試可加急檢測服務背景
集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點,貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過程。測試在保證芯片質(zhì)量,產(chǎn)品交付、項目驗收及推向應?具有重要作?。而芯片設計多樣化和定制化,對測試人才和技術(shù)經(jīng)驗要求明顯提升,如何實現(xiàn)快速?程化和量產(chǎn)將?臨極?挑戰(zhàn)。
我們的優(yōu)勢
廣電計量擁有一支經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開發(fā)團隊,可提供各類芯片的測試方案開發(fā)、測試硬件開發(fā)、測試程序開發(fā)與調(diào)試,小批量測試、應?驗證。從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務。