日本nfcorp阻抗分析儀 ZA57630
從電子元件和半導體設備到材料表征，我們滿足各種阻抗測量需求
ZA57630是一款阻抗分析儀，基本精度為±0.08%，最大頻率為36 MHz。
它配備了多種功能，并支持廣泛的阻抗測量。
基本精度：±0.08%
頻率范圍：10 μHz ~ 36MHz
阻抗范圍：10μΩ ~ 100GΩ （外部擴展測量模式）
測量的交流信號電平：0.01 毫伏方秒 ~ 3 毫磁振，0.1 微臂 ~ 60 毫安
直流偏置： -5 V ~ +5 V / -40 V ~ +40 V （>1 kHz）， -100 mA ~ +100 mA
測量時間：0.5 ms/點
測量參數： Z， R， X， Y， G， B， LS， LP， CS， CP， RS， RP， ΘZ， ΘY， D， DΕ， DΜ， Q， V， I， εs， εs′， εs“， μs， μs′， μs′， μs”， 頻率
高速測量 業界最快的 0.5 ms/點
實現了業界最快的0.5 ms/點。
縮短生產線的節拍時間，提高測量工作的效率。
此外，通過增加要設置的測量時間，可以平均測量結果并降低噪聲的影響。 您可以根據需要選擇最佳測量時間。
4 種測量模式 廣泛的 DUT
標準測量模式 （IMPD-3T）
高頻測量模式 （IMPD-2T）
外部擴展測量模式 （IMPD-EXT）
增益相位測量模式 （G-PH）
標準測量模式 （IMPD-3T）
一種可在寬頻率范圍內實現高精度測量的模式。
測試引線和測試夾具可用于容納各種形狀的試樣形狀。
4 端子和 3 端子連接也很容易實現。
推薦頻段：10μHz~10MHz
推薦阻抗值：1Ω~10MΩ
高頻測量模式 （IMPD-2T）
可在 10 MHz 或更高的高頻下實現穩定測量的模式。
推薦阻抗值：200mΩ~10kΩ
使用 N 型連接器的 2 端子連接
端口擴展功能即使在待測樣品的接線較長的情況下也能實現穩定的測量。 可有效集成到恒溫箱和檢測設備中。
外部擴展測量模式 （IMPD-EXT）
通過使用施加高電壓/大電流信號的功率放大器和用于測量小信號的前置放大器，可以執行僅靠該儀器無法處理的各種阻抗測量。
可測量阻抗范圍 10μΩ ~ 100GΩ
用于測量超過千兆Ω的絕緣材料以及毫米Ω和微Ω量級的電線和銅箔等材料。
從我們廣泛的放大器陣容中，我們可以提出與測量樣品相匹配的組合。
注意：可測量范圍受外部連接設備（如放大器）規格的限制。
增益相位測量模式 （G-PH）
一種可以測量傳輸特性的模式，例如濾波器和放大器。 將掃描信號施加到被測電路上，并以高精度測量其頻率響應（增益、相位）。
頻段：10μHz~36MHz
測量精度：0.01 dB 增益，0.06° 相位
動態范圍 110dB（典型值）
