手持式漆膜測厚儀價格MC-2010A高精度涂層測厚儀別名：

MC-2010A涂層測厚儀，MC-2010A電鍍層測厚儀，MC-2010A漆膜測厚儀，MC-2010A數顯涂層測厚儀，MC-2010A高精度涂層測厚儀，MC-2010A磁性法涂層測厚儀，MC-2010A漆膜厚度測量儀，MC-2010A油漆厚度測量儀，MC-2010A鍍鉻層厚度測量儀

手持式漆膜測厚儀價格MC-2010A高精度涂層測厚儀產品簡介

MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀是的結晶。涂層測厚儀采用單片機技術，測量精度高、數字顯示、操作簡單方便、觸摸按鍵、內置探頭全量程測量、體積小、重量輕; 強大的抗力，求值更穩定；且具有低電壓指示、統計、系統/零點/兩點校準功能，其性能已達到當代同類儀器的*水平。 MC-2010A涂層測厚儀是一款經濟型通用涂層測厚儀，其產品優勢為：性能與進口測厚儀性能一樣好，操作簡單，測試速度快，靈敏度好，測量精度高。

   MC-2010A涂層測厚儀可應用在無損、快速和高精度涂鍍層測厚領域。它是油漆、防腐蝕、電鍍、汽車工業、輪船運輸、飛機制造等相關行業理想的輔助制造生產工具。它可以穩定地工作于實驗室，車間現場和戶外。

   我公司具有20年的測厚儀專業研發生產經驗，力求給您zui的品質體驗。MC-2010A涂層測厚儀為內置測量探頭，該涂層探頭的探點加入一種PIONEO超硬涂層，用于強化表面，其厚度僅為1毫米的千分之幾，但卻有超乎想象的高強硬度和高耐磨性。這種全新的深層技術已經嵌入到部件中，其測量誤差、耐磨性比其它同類儀器又提高了一個檔次。

MC-2010A型涂層測厚儀工作原理

MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應法測量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2010A型涂鍍層測厚儀應用范圍

本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

二、MC-2010A型涂鍍層測厚儀產品性能

MC-2010A型涂鍍層測厚儀技術參數

1、測量范圍：0~1200um

2、測量誤差：<3%±1um

3、zui小示值：1um

• 4、顯示方式： 4位液晶數字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：內置探頭全量程測厚

   (2).統計：設有三個統計量：平均值、zui大值、zui小值

   (3).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準

   (4).電量：具有欠壓顯示功能

   (5).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

   (6).關機：具有自動關機和手動關機兩種方式

6、電源：  兩節1.5v電池

7、功耗：  zui大功耗90mw

8、外形尺寸：112mm*44mm*25mm

9、重量：    100g(含電池)

10、使用環境溫度：　0℃~+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度： 0.5mm

12、基體zui小平面的直徑： 7mm

13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：   右上角顯示＂＂

*臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

三、MC-2010A漆膜厚度測量儀電鍍層測厚儀配置單

 1、涂層測厚儀MC-2010A                  一臺

 2、1.5v電池 (7號)                      二節

 3、標準樣片              一盒

 4、標準鐵基                            一塊

 5、小鋁箱                              一個

 6、說明書、合格證                      一套 

影響測量準確度的因素有以下幾種：

a 基體金屬磁性質

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

b 基體金屬電性質

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

c 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d 邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

g 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

g 磁場

周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

h 附著物質

本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

測頭壓力

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。