產品介紹INTRODUCTION
EXPLORER 在幾乎所有的分析領域都有著出色的性能,例如可以測量混合物質的相態;可以檢測微觀的結構性質,例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計,更是為儀器提供了廣闊的升級空間,通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
特點FEATURES
- 直接傳動高精度轉矩馬達與優勢的光學編碼器相結合,確保了儀器的傳動速度和精度
- 全部組件可以拆分為7個模塊,同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品,適用于全部的粉末、薄膜和塊狀樣品
- 可以進行常規的晶相識別和定量,可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算
- 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優先取向、納米粒子分析
- 光學系統可以在Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或拋面鏡單色器自由切換
- 高分辨的反射技術,讓檢測厚度精確至1-500nm,幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,從而可以進行薄膜或層次分析
- 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合,并安裝在入射光束上,可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光
- 強大,簡便的操作軟件實測檢測工作更加簡單,軟件同時具有許多*的功能,可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析
規格參數SPECIFICATION
- 角度偏差:0.0001
- 重復性:0.0001
- 最小步進角度:0.0001
- 發生器功率:3kW
- 儀器種類:多晶衍射儀