小型高低溫試驗箱用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于3%,且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
HGTH 系列產(chǎn)品能滿足以下各項標(biāo)準(zhǔn):
(IEC68-2-1)試驗A:低溫試驗方法。
(IEC68-2-2)試驗B:高溫試驗方法。
(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗。
(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。
(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。