創新歷程：

1973年、理學公司推出了世界上商用臺式X射線衍射儀Gen1，體積小巧，只相當于當時傳統X射線衍射儀的十分之一

1976年、第二代臺式機Gen2問世， 其功率與Gen1同為300Wo

1995年、推出第三代臺式機，并命名為MiniFlex＋。 采用Windows®PC控制，在30kV、 15mA條件下工作時，其X射線功率高達450W。 從MiniFlex＋開始 理學的臺式機均采用豎式測角儀 并配用自動進樣器。

2006年、 第四代臺式機MiniFlex II問世，可以搭載D/teX Ultra 一維探測器（選配）。

2012年、 推出第五代臺式機MiniFlex600，除原有的600W大功率以外，還新增了PDXL粉末衍射軟件。

      理學的MiniFlex是功能齊全的通用型X射線衍射儀可進行多晶材料的定性和定量分析。在定性分析中可通過與己知相數據庫進行對比來識別未知結構（化學組成或晶相）。在定量分析中，可分析固體混合物表征，以確定晶體化合物的相對舍量。外型小巧方便，具有近于分析儀器的測試性能，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域，是一種適用于大專院校學生實驗及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業進行材料結構解析；Miniflex600系列也是一種適用于工廠生產現場質量管理檢查，勞動保護、環境污染測量的X射線衍射儀。 

     新開發的SmartlabStudio ll軟件包具有棄常人性化的GUI，便于數據采集和分析。用戶可從各種插件選擇所需的模塊，如“X射線衍射測量”、“粉末X射線衍射”和“數據管理”等，并可在單個平臺上自由操作各種模塊，使測量和分析齊頭并進。

Smartlab Studio ll通過自動流程條提示從設置、測量到分析和報告生成的必要步驟，即使沒有經驗的用 戶也可輕松操作。

Smartlab Studio ll具有下列功能：

搜索匹配分析

結晶度

晶系精修

指標化

定量分析

晶粒尺寸和晶格畸變

全圖擬合

Riedveld精修

晶格常數精修

多種附件選配;

1、自動進樣：最多可放8個樣晶，并帶旋轉功能。

2、旋轉樣晶臺：可連續旋轉，從而減少取向的影響。

3、高溫附件：BTS150和BTS500在高溫條件下（室溫～150°C或室溫～500°C）進行原位測量。

4、氣密性樣品臺：適用于不直在空氣中分析的樣晶。

5、樣晶架：無反射樣晶架在內的各種樣晶架，以滿足用戶的不同需求。

6、多維測量硅陣列探測器：空間分辨率高，可在一維或二維模式下測試