日本混合激光顯微鏡OPTELICS HYBRID+
OLED行業、晶振應用、SAW濾波器、半導體激光、太陽能電池、液晶面板、透明晶圓檢查等。
▆ 共聚焦顯微鏡原理：
樣品表面的反射光通過遮光板上的細孔到達檢測器。點光源的照射光到達樣品并聚焦時，其反射光也正好在細孔處聚焦，因此稱為“共聚焦光學系統“。樣品表面的聚焦部位，其反射光經細孔到達檢測器進行檢測；未聚焦的反射光大部分被遮光板擋住，無法被檢出。這種僅聚焦部位的反射光被檢出的共聚焦光學系統，為HYBRID+激光顯微鏡所采用。
日本混合激光顯微鏡OPTELICS HYBRID+
▆ 特點：
·提供6項職能以滿足各種需要
1.白光共焦：白光共焦顯微鏡是利用共焦光學和白光的顯微鏡。HYBRID+ 可作為白光共焦顯微鏡進行全色高清晰度觀測和高分辨率三維輪廓測量。
2.激光共焦：HYBRID+利用共焦光學和激光光源作為激光共焦顯微鏡。它使高放大率、高分辨率的觀測和測量與掃描電子顯微鏡的性能相當。
3.差動干涉對比：共焦光學與差動干涉對比相結合，使得超細地形的高對比度實時可視化。
4.垂直掃描白光干涉測量：該功能利用干涉測量技術對地形進行納米尺度測量,并對晶圓片和薄膜進行廣域波動測量。它使用雙波束干涉物鏡，以便能夠在一毫米規模的大面積上對納米尺度的地形進行高精度的剖面測量。
5.相移干涉測量：這個功能使用干涉測量來進行角度尺度地形測量。
6.光譜反射計薄膜厚度測量：這個功能使用反射計來測量厚度小于1微米的透明薄膜的厚度
·滿足行業零先的規格并實現高精度
·提供各種測量、分析和支持功能,以提高可用性
·自動操作以提高效率
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關于上海利布迪工業技術設備有限公司：
我們的產品包括反應器/半導體設備/氣柜/化學品柜制造中的部件、焊接設備、切割設備、耗材、檢測設備、流體元件、五金配件等。
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流體元件：
日本富士金FUJIKIN，美國Aptech，韓國Unilok，以色列哈姆雷特HAMLET，美國Presair壓力開關，以及潔凈系列不銹鋼管道等。
壓力溫度：
美國PalmerWahl 圓盤壓力溫度記錄儀及溫度計系列產品, 日本岡崎OKAZAKI超低溫溫度計等；
工業材料：
日本預磨鎢針，專業供應用于美國世偉洛克Swagelok，美國AMI，德國歐比泰姆Orbitalum，美國眼鏡蛇MK等自動焊機；V+V不銹鋼材料，銅合金材料，半導體耗材等；
制造與檢測：
半導體設備及配件，進口自動焊機，日本ACCESS PFA焊接機，無毛刺切割機，日本Lasertec激光顯微鏡，美國SIGHTPIPE管焊縫光學檢查內窺鏡，美國鷹眼HAWKEYE內窺鏡，日本奧林巴斯內窺鏡，日本VCR限流墊片/孔板，英福康INFICON氦檢儀等。
