高低溫測試試驗箱用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進行恒溫、恒濕、高低溫交變濕熱或恒定濕熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量或研發(fā)之用。
高低溫測試試驗箱技術(shù)參數(shù):
內(nèi)箱尺寸:40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100;
溫度范圍:A:0℃~150℃ B:-20℃~150℃ C:-40℃~150℃ D:-70℃~150℃(每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中一段)
均勻度/波動度:±2℃/±0.5℃
升溫速度:常溫?----->150℃約60分鐘(升溫約3℃每分鐘)
降溫速度:常溫?----->-70℃約100分鐘(升溫約1℃每分鐘)
內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼
保溫材質(zhì):聚氨脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細玻璃纖維綿
門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
溫度傳感器:鉑金電阻 PT100Ω/MV
制冷系統(tǒng):“”全封閉風冷式單級/復(fù)迭壓縮機制冷方式
循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪
加熱系統(tǒng):全獨立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器
執(zhí)行標準:
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)