布魯克傅立葉變換拉曼模塊光譜儀高性能
布魯克在 FT-拉曼光譜分析領域多年經驗的集大成者，它具有的24位檢測器電子器件和優質的光學元件。
通過將其與布魯克 INVENIO 以及 VERTEX FTIR 研究級光譜儀相連接，
您將能獲得苛刻的發射試驗所穩定性和通量（FT-拉曼光譜分析）。
布魯克傅立葉變換拉曼模塊光譜儀取樣靈
RAM II 可配備第二個激光檢測系統、自動極化附件和雙光纖光學耦合端口，旨在實現靈活性。
其它功能還包括，切換至 90° 散射幾何形狀以及散焦光學元件，這是有色樣品避免激光束過熱所功能。
用于優化樣品位的電動樣品臺，以及用于校正儀器響應光譜的光源也是 RAM II 標配之一。
至于其它取樣附件，如自動樣品轉換器，有低溫和高溫檔可供選擇。
FT-拉曼顯微鏡 RamanScopeIII 以及與布魯克緊湊型拉曼顯微鏡 SENTERRA II 相結合所產生的功能，
可將拉曼光譜分析拓展至微米尺寸的樣品。RAM II還支持專用配置，
用于光致發光（PL）應用，比如半導體質控和材料研究領域。
靈敏度
RAM II 配置能夠為您提供廣泛的光譜范圍3600 –50 cm-1 （斯托克斯位移）。
通過與 INVENIO R FTIR光譜儀相結合，RAM II模塊能夠實現靈敏度和穩定性。
經驗證的用于樣品激發的Nd:YAG激光源（1064 nm）可以由軟件控制。
系統可配備一個或兩個室溫InGaAs檢測器以及一個專有的高靈敏度Ge檢測器。
高通量光學元件和布魯克液氮冷卻鍺二極管檢測器，
能夠為您帶來超低信號檢測，噪聲達到最小，從而確保靈敏度。
制冷劑保存時間較長，可實現長達一整周的無憂運行。
