近場光譜影像分析系統(tǒng) UniDRON-Nano AFM-NSOM-THz-IR-Raman
• 系統(tǒng)結合后保留原有AFM之功能
• 可結合之光譜包含拉曼、紅外光、太赫茲光、熒光與時間解析熒光光譜
• 可建立正立或倒立以及同時正倒立顯微鏡
• 雷射照射方式: 穿透、反射以及側向激發(fā)
• 可同時進行多點探針掃描
系統(tǒng)架設:
使用側面照明的多探頭無孔成像(NSOM&THz&IR)
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設備及技術的研發(fā)與應用,為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術,以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時,我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程,得到客戶所需要的答案及結果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務于各大專院校、研究機構、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對國內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。