BW-HAST-H4
高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)
高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)BW-HAST-H4 適用于 SI/SIC/GaN 芯片的各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、 MOSFET、IGBT、IPM、橋堆等 半導(dǎo)體器件進(jìn)行 HAST 試驗(yàn)。
技術(shù)特點(diǎn) Technical characteristics
■實(shí)時(shí)監(jiān)測每個(gè)器件的反偏電壓、漏電流;
■電壓可達(dá)6000V;;
■對于模塊上下橋可同時(shí)加電同時(shí)監(jiān)測漏電;
■整個(gè)試驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)(漏電流、反偏電壓、溫度、濕度) 記錄并存儲。并輸出為Excel 報(bào)表和繪制全過程漏電流IR 曲
■設(shè)定漏電上限可快速切斷該回路電壓;
■可根據(jù)用戶的需求,定制各種老化板及測試程序。