ATP6500-高性能-15 ℃制冷型光纖光譜儀
產品概述
ATP6500是奧譜天成研制的超高性能制冷型微型光纖光譜儀，是性能的*，它采用1044 x 64像素的制冷型背照式線性CCD，該CCD具有zui大的動態范圍，并采用了半導體制冷技術，降低了工作時的暗電流，CCD可工作在設定的恒溫環境（zui低可達-20ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP6500的測量可靠性，測量結果不隨環境溫度變化。
同時，奧譜天成為ATP6500特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界*水平。
ATP6500可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。
ATP6500只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。
ATP6500-高性能-15 ℃制冷型光纖光譜儀
特點：
探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
探測器像素：1044 x 64
超低噪聲CCD信號處理電路
量子效率：>90%；
超低Etalon效應；
超高動態范圍；
超高信噪比；
光譜范圍: 190-1100nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
ATP6500-高性能-15 ℃制冷型光纖光譜儀典型應用：
珠寶鑒定；
光學器件的性能測量；
多參數在線水質分析儀；
微量、快速分光光度計；
光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析
熒光光譜儀；
生化分析儀；
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
LIBS；
探測器 | |
類型 | 線陣背照式CCD (制冷到 -20ºC) |
探測光譜范圍 | 190-1100 nm |
有效像素 | 1044 x 64 |
像元尺寸 | 24μm×24μm |
全量程范圍 | ~600000 ke- |
靈敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪聲 | 8 e- |
光學參數 | |
波長范圍 | 190-1100 nm |
光學分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
性噪比 | >2000:1 |
動態范圍 | 10000：1 |
工作溫度 | -10-40 oC |
工作濕度 | < 85%RH |
光路參數 | |
光學設計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
電氣參數 | |
積分時間 | 1 ms - 130 second |
數據輸出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供電電源 | DC 5V±10% |
工作電流 | <2.3A |
存儲溫度 | -20°C to +70°C |
操作溫度 | -10°C to +40°C |
物理參數 | |
尺寸 | 170×110×52 mm3 |
重量 | 1.2 kg |
Sealing | Anti-sweat
|
