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Sigma 300 場發射掃描電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海拓普思科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號Sigma 300
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/1/18 9:30:56
  • 訪問次數166
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上海拓普思科技有限公司(The TOPS Lab System)是以材料檢測方案解決為宗旨,集材料檢測儀器的銷售、實驗室建設和技術咨詢服務為一體的實驗室檢測專業服務機構。TOPS提供專業的材料檢測實驗室建設和技術咨詢服務,在汽車、航天航空、電子電器、電力、鋼鐵、機械、能源、交通等行業,在金屬材料、塑膠材料、涂裝、汽車零部件、汽車曲軸、新能源電池、PCB板、半導體、石油管道、壓力容器、電站管道、緊固件、鑄造件、熱處理件、軸承等生產和檢測領域中提供專業的實驗室設計及建設服務、實驗室質量管理咨詢服務、國家實驗室認可咨詢服務、實驗室管理系統的建立和改進服務以及材料檢測技術培訓服務等,并為廣大實驗室工作者提供一個良好的管理和技術溝通平臺。TOPS是專業的材料檢測儀器代理商,是德國Spectro光譜儀、美國BUEHLER金相設備、美國WILSON硬度計、瑞士ERNST硬度計、美國G&R硬度計、美國INSTRON試驗機、德國Leica材料顯微鏡、德國ELTRA氣體分析儀、德國SPECTRUMA輝光光譜儀、美國Q-LAB耐候老化設備、美國TA熱分析儀等眾多品牌產品的代理商,并是其中多數品牌的區域或行業總代理。TOPS也是專業的材料檢測儀器集成商,有著超過二十年的專業材料檢測技術背境,可為金屬材料和高分子材料在化學性能、物理性能和耐候老化性能檢測上提供全套的檢測儀器和解決方案。公司還可以提相關配套檢測儀器和試樣加工設備,為客戶提供一站式的專業便捷服務。公司一直以專業的技術服務和優質的售后服務為理念,并贏得了廣大客戶的信賴。TOPS期待與您共創實驗室美好明天!
Sigma 300 場發射掃描電子顯微鏡
Sigma 300 場發射掃描電子顯微鏡 產品信息

Sigma 300 場發射掃描電子顯微鏡

 

用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。 Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實現基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

用于清晰成像的靈活探測

  • 利用探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
  • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
  • 利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
纖維,在傷口護理中敷的抗菌藥

自動化加速工作流程

  • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中,從快速成像和節省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
  • 首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
  • 接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步,將結果可視化。
Sigma 的 4 步工作流程節省大量的時間

高級分析型顯微鏡

  • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。
  • 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
  • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。
使用頂級的 EDS 幾何探測器加速 X 射線分析

基于成熟的 Gemini 技術

  • Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
  • Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。
  • Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。
Gemini 鏡筒的橫截面示意圖  

用于清晰成像的靈活探測

  • 利用新的探測技術表征所有的樣品。
  • 在高真空模式下利用創新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。
  • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。
  • 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。
  • 利用 BSD 或者 YAG 探測器進行成份分析。
Gemini 鏡筒和探測器的橫截面示意圖

配件

SmartEDX
為您帶來一體化能譜分析解決方案
如果單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:
  • 優化了常規的顯微分析應用,并且由于氮化硅窗口優秀的透過率,可以探測輕元素的低能X射線。
  • 工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環境中的重復性。
  • 完整的服務和系統支持,由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。
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