Trio-Tech 是 HAST 測試領域的技術和市場，擁有技術的 HAST 系統，提供更方便、更安全的交鑰匙解決方案，包括系統、機架、培訓和測試服務，在有 600 多個安裝點。
HAST-1000X、HAST-6000X 和 HAST-9000X 加壓濕度測試系統為塑料封裝集成電路
和其他微電子器件的傳統濕熱 85/85 溫度和濕度測試提供了一種快速、經濟的替代方法。
據半導體行業的技術計算，HAST 測試比傳統測試方法快 10-40 倍。這種高度加速的 測試能更快地對日益復雜的微電子產品進行表征、評估和鑒定。
TRIO-TECH HAST雙艙高加速老化試驗箱設備性能：
?HAST、AUTOCLAVE、85/85 測試
可根據要求進行
? 測試容量大
測試容量范圍為 64 - 380 升（其他尺寸可根據要求提供）
? 觸摸屏控制器
便于操作的觸摸屏操作
? 靈活的偏導線配置
廣泛的應用和實驗
? 4 ATM 系統
在 85% 相對濕度條件下提供 150oC 的溫度
? 4 個數字輸出
觸發外部電源開/關
? 電源控制
允許通過可變通信類型對外部電源進行編程/觸發
TRIO-TECH HAST雙艙高加速老化試驗箱 產品特點：
1， 的 HAST 系統采用了雙容器系統設計，帶有的圓周加熱系統，可提供均勻的溫度和濕度控制（+/- 2°Χ, +/- 5% RH），并消除被測設備上的冷凝現象。 這就確保了測試數據的可靠性。
2，我們的所有 HAST 系統均符合 ASME 4 ATM 的額定值，可在 85% 相對濕 度下進行高溫測試。85% 相對濕度下的溫度為1 5 0 ° C .許多工藝都需要高溫 HAST測試，而這是可以實現的。
3，非筆６該模式可對溫度、濕度、測試時間、斜坡上升、電源循環和斜坡下降進行多步驟編程。該模式還提供自動啟動電源驗證、校準和 PID 值調整功能。數據 保存周期 - 1 秒。硬盤 CF 內存。 Hast 系統采用觸摸屏計算機系統，可對所有腔室參數和電源進行簡單控制。有兩種編程模式可供選擇。
4，計算機顯示器上可顯示測試條件圖表 。所有測試參數和最多四個電源的數據記錄都可直接導入標準 USB 端口或局域網連接的服務器進行存儲或傳輸到遠程 PC。
5，有多種類型和數量的偏置導線可用于不同的 ,應用，如測試板監控、動態測試和泄漏電阻測試。可選配快速斷開偏置線連接器，便于拆卸測試架進行清潔和維護。
7，該選項允許在每次測試后將 N2 吹掃到系統中。這將減少系統的斜坡下降時間，從而防止測試設備出現 "烘烤效應"。
8，該選項允許在每次測試開始前將 N2 吹掃到系統中。這將清除系統中的空氣，防止蒸汽在升溫過程中積聚在測試設備上。
TRIO-TECH HAST雙艙高加速老化試驗箱 規格：
| HAST機型 | HAST-1000X-2 | HAST-1000X-150-2 | |
| 溫濕度范圍 | 105至133℃（99%RH） 110至140℃（85%RH） 118至150℃（65%RH） | ||
| 壓力 | 2.1bar/30.5Psi/2.1Kg/cm2 | ||
| 溫度精度 | ±0.75℃ | ||
| 濕度精度 | ±3%相對濕度（85%相對濕度） | ||
| 啟動時間 | 一般為90分鐘（無負載） | ||
| 下降時間 | 一般為90分鐘（無負載） | ||
| 設備功率 | 30瓦（值） 150瓦（值） | ||
| 負載 | 10-15kg 20-25kg | ||
| 風扇 | 無 有 | ||
| 試驗箱尺寸（直徑×深度） | 18×24英寸（每個容器） | 18×24英寸（每個容器） | |
| 44.6×61.5厘米（每個艙） | 44.6×61.5厘米（每個艙） | ||
| 外部尺寸（寬×深×高） | 90×102×215厘米 | 113×122×225厘米 | |
| 凈重 | 750千克 | 830千克 | |
| 電源要求 | 交流110-240伏 單纖：50-60赫茲，60安培 | 交流110-240伏 單纖：50-60赫茲，64安培 | |
| 設施要求 | DI水 | ||
TRIO-TECH HAST雙艙高加速老化試驗箱 性能參數表：
參考標準：
TRIO-TECH HAST雙艙高加速老化試驗箱 安全功能：
壓力：.緊急超壓安全閥、自動試驗室超壓吹掃、超壓警報和加熱器自動切斷。
溫度 ：腔體過熱傳感器、圓周加熱器和腔體加熱器、蒸汽泄漏、低水位切斷 .
電氣： 熔絲控制面板、系統和加熱器斷路器、接地系統 檢測供水故障、不門鎖漏電斷路器、溫度傳感器斷開保護器。
系統還配有一個外部報警終端，帶有報警蜂鳴器和指示燈。出現問題時，蜂鳴器會發出聲音，附近的人會立即收到警報。
該系統采用手動或自動門鎖機制選項，并在此基礎上運行。這可以防止在試驗室加壓時
打開門。
