射頻輝光放電光譜儀

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公司名稱HORIBA科學儀器事業部
品牌
型號Profiler 2
所在地國外
廠商性質生產廠家
更新時間2024/3/13 9:02:42
訪問次數139

產品標簽:

XelPleX 射頻輝光放電光譜儀 OpenPlex 開放式表面等離子體共振成像儀

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公司介紹主營產品

HORIBA 科學儀器事業部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團，致力于為用戶提供*的檢測和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質和XRF等分析儀器。

結合旗下的技術優勢，包括擁有200多年發展歷史的光譜制造技術Jobin Yvon,以及擁有*技術優勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經遍布各地，并在中國實現了銷售和服務的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產品專家、售后服務團隊以及全國各地的代理商機構可充分保障國內用戶的技術咨詢以及售后服務需求。

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HORIBA歐洲總部自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家，其分支機構遍布。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統（System）及各種光學光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障！

產品簡介在線詢價

GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進行超快鍍層分析的理想工具，非常適合于導體（和/或）非導體復合鍍層的分析。可分析70多種元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次測試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。

射頻輝光放電光譜儀產品信息

GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀是一款可進行超快鍍層分析的理想工具，非常適合于導體（和/或）非導體復合鍍層的分析。可分析70多種元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次測試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。
GD-Profiler 2可分析幾納米到200微米的深度，深度分辨率小于1納米。GD-Profiler 2采用了脈沖式射頻輝光源，可有效分析熱導性能差以及熱敏感的樣品。此外，還采用了多項技術，如高動態檢測器（HDD）可測試ppm-100%的濃度范圍，Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。主要應用領域包括鍍鋅鋼板、彩涂板、新型半導體材料、LED晶片、硬盤、有機鍍層、鋰電池、玻璃、陶瓷等等。

GD-Profiler 2射頻輝光放電光譜儀技術參數：

1、射頻發生器-標準配置、復合D級標準、穩定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩定時間短，表面信息無任何失真。

2、脈沖工作模式既可以分析常規的涂/鍍層和薄膜，也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。

3、Polyscan多道（同時）光譜儀可全譜覆蓋，光譜范圍從110nm-800nm，可測試遠紫外元素C、H、O、N和Cl。

4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有zui大的光通量，因而擁有的光效率和靈敏度。

5、高動態檢測器（HDD）可快速、高靈敏的檢測ppm-100%含量的元素。動態范圍為5×10¹⁰。

6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。

7、功能強大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告。

8、HORIBA*的單色儀（選配）可大地提高儀器靈活性，可實現固定通道外任意一個元素的同步測試，稱為n+1。

9、適用于ISO14707和16962標準。

更多指標參數請訪問HORIBA

關鍵詞：光譜儀鋰電池