日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍:0 至 2.5mm
2.通過調(diào)零和標準調(diào)整可立即進行測量
規(guī)格
測量范圍 0~2.50mm
顯示方式 LCD數(shù)字、顯示保持
顯示分辨率 1μm:0-999μm 0.1μm:0-400μm 0.5μm:400-500μm 0.01mm:1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ~ 100 μm:±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ~ 2.50 mm:±2% 以內(nèi)
工作溫度 0~40℃(無凝結(jié))
重量 約270克(含電池)
配件 標準厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍:0 至 2.5mm
2.通過調(diào)零和標準調(diào)整可立即進行測量
規(guī)格
測量范圍 0~2.50mm
顯示方式 LCD數(shù)字、顯示保持
顯示分辨率 1μm:0-999μm 0.1μm:0-400μm 0.5μm:400-500μm 0.01mm:1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ~ 100 μm:±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ~ 2.50 mm:±2% 以內(nèi)
工作溫度 0~40℃(無凝結(jié))
重量 約270克(含電池)
配件 標準厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書