產品說明
Ux-1000W小型多道X射線熒光光譜儀可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道,預留1個可增加通道位置,同時分析10種元素。標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析,是大中型企業質量控制的理想選擇。
針對需求滿足的解決方案
建筑材料/水泥
耐火材料/陶瓷
冶金礦產/采礦
金屬材料
學術研究、教學
玻璃、石墨
土壤調查/元素分析
工藝控制
成分質量控制
成分檢測
檢驗設備
成分指令控制
產品特點
1.1分鐘即可完成準確測試,換樣抽真空時間小于15秒
2.下照式X射線檢測,*避免樣品破碎造成的儀器故障,提高使用效率
3.采用高精度流氣密度穩定器(技術)
4.標準配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十種元素及氧化物的分析
5.引入*測試系統技術、測試的短期和*穩定性*
6.配備經驗系數法、理論影響系數法、基本參數法等定量分析方法
7.測試精度遠優于GB/T176-2008對重現性的要求,輕松滿足行業需求
產品功能
具有遠程診斷功能說明:我們軟件集成了常用的DCS系統的通訊協議,如TCP/IP,OPC,ModBus,RS232/485等,可與工廠的配料系統的控制中心或PLC進行數據交換,即可向配料系統傳送分析數據,也可傳送配比數據。實現在線數據分析、在線質量監控。
具有技術的,快速,安全,性能可靠而實用的樣品裝卸系統
搖臂式設計的樣品裝卸系統,完善的粉末保護方式,預真空室和限定位置機構,實現高度重現性,**,快速穩定。1000W光路設計示意圖,
WDXRF色散方法是建立在X射線波動性基礎上,依據布拉格定律(2dsinθ=nλ)對樣品發射出的特征X射線及原級譜線的散射線進行分光,再將待測元素的特征X射線與基體中某些元素的高次線射入探測器并將光信號轉換為電信號,經放大后,再通過模數轉換(ADC)將電信號轉換為數字信號,然后由脈沖高度分析器篩除高次線、晶體熒光等,通過數據處理將特征X射線強度轉換為濃度。
Ux-1000W連續72小時檢測Ca:Ka譜線的強度,達到Q<1.1,Si:Ka譜線的強度,達到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達到Q<1.02,
1000W具有良好的穩定周期:采用了一系列*的自動控制算法,使恒溫控制、油溫控制、流氣密度穩定控制()、高壓電源控制達到了新的層次,從而使儀器的測試穩定性得以大幅度提高,接近理論極限。對于應用行業,CaO含量和SiO2含量的精度是非常重要的。Ux-1000W連續72小時檢測Ca:Ka譜線的強度,達到Q<1.1,Si:Ka譜線的強度,達到Q<1.05, 其他譜線輕易就可達到Q<1.02,熒光強度的穩定性(包括短期穩定性和*穩定性)極其。使儀器的校驗周期延長到每周一次。加上采用進口瓦里安X光管(76um,400W薄皮窗)和進口高壓電源(60kV,10mA),使產品的穩定性達到行業水平。
1000W儀器采用WdxAnalyzer V1工作站,人機對話的軟件界面、模塊化的操作按鈕,不同權限的操作員憑密碼登陸、輸出報告可選多種模式等特點。
性能指標
典型白生料樣品的實測分析精度(60S),高于GB/T176-2008對重現性的要求。 | |||||||||
氧化物 | SiO2 | Al2O3 | Fe2O3 | CaO | MgO | Na2O | K2O | SO3 | Clˉ |
分析譜線 | Si:Ka | Al:Ka | Fe:Ka | Ca:Ka | Mg:Ka | Na:Ka | K:Ka | S:Ka | Cl:Ka |
□n-1≤ | 0.03 | 0.02 | 0.01 | 0.035 | 0.02 | 0.02 | 0.01 | 0.01 | 0.0007 |
重現性(%) | 0.10 | 0.06 | 0.05 | 0.15 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.05 | 0.002 |
GB/T176-2008 對重現性的要求(%) | 0.20 | 0.2 | 0.15 | 0.25 | 0.15 | 0.05 | 0.15 | 0.15 | 0.003 |