XAFS,臺式X射線吸收精細結構譜儀RapidXAFS 1M

                           臺式XAFS儀器實物圖

產品原理

RapidXAFS 譜儀是采用羅蘭圓結構和高指數面晶體進行單色分光，實現X-射線吸收/發射譜譜測量，是研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

性能特點：

?不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究； 

?不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；

?不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等； 

?對樣品無破壞，可進行原位測試； 

?能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數，一般認為原子間距精確度可達0.01? 

XAFS譜主要包括兩部分: X射線吸收近邊結構 (XANES) 和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS) 。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV， 來源于X 射線激發出來的內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV 至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X 射線激發出的內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。

產品優勢

多功能：提供科研級高質量XAFS/XES圖譜

高性能：1小時內完成1%含量樣品測試

高光通量：≥1000,000 photons/sec@8Kev

配置靈活：可根據客戶要求定制樣品池，實現高溫高壓，低溫低壓，各種氣氛條件下對反應過程原位觀察

簡單易用：只需半天培訓即可上機操作

自主可控：90%部件自主可控，無政策風險

低維護成本：無需專人維護、操作、管理等

 XAFS/XES數據已成為了期刊的“標配”，致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS/XES走進每個實驗室的理念，推出全新的X射線吸/發射收譜儀平臺（RapidXAFS 1M）。

RapidXAFS 1M 具有如下特點：

1.無需同步輻射光源即可提供XAFS測試； 

2.臺式體積，可放置于實驗室內隨時使用，極大節省了科研等待時間； 

3.實現對催化劑的局域結構、價態分析； 

4.實現原位測量（高溫高壓，低溫低壓，各種氣氛條件下）條件下對反應過程原位觀察，堪比高性能版本的靜常壓光電子能譜；

應用領域

- 新能源：

燃料電池研究、 儲氫材料研究、鋰離子電池、碳中和研究。

通過XAFS/XES可獲得中心原子在電催、光催和熱催化學反應過程中的

價態、配位環境及其動態變化。

- 催化：

納米顆粒催化、單原子催化。通過XAFS/XES獲得催化劑在載體上存在的形

態，與載體的相互作用形式及在催化過程中的變化等， 以及含量極低

的元素的近鄰結構。

- 材料科學：

用于各種材料表征，復雜體系和無序結構材料的研究， 放射性核素研

究，表面、界面材料的相關性質研究，材料的動態變化過程研究。

- 生物大分子：

用于研究含金屬的生物大分子中的金屬及其近鄰結構，如對在物質的

生命過程中起著重要的作用的金屬蛋白研究等。

- 環境科學：

廣泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，鉻鞣革和超鎂鐵礦巖石中的元素的價

態和含量的分析；動植物組織等樣品分析；重金屬污染檢測等。