萬深SC-X型小麥外觀品質(zhì)分析、面粉麩星檢測儀
小麥品質(zhì)自動(dòng)4分類分析結(jié)果標(biāo)記圖
面粉麩星砂石分類檢測結(jié)果標(biāo)記圖
1.萬深SC-X型小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測儀用途:快速測量小麥的粒數(shù)、千粒重、粒形、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等,面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實(shí)驗(yàn)室快速檢測獲得批處理數(shù)據(jù)(包括小麥粒數(shù)、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等;面粉的麩星、砂石的大小和含量)。小麥品質(zhì)檢測方法符合GB5504-85《糧食、油料檢驗(yàn)小麥加工精度檢驗(yàn)法》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗(yàn) 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。
2.萬深SC-X型小麥品質(zhì)分析和面粉麩星檢測儀儀器特點(diǎn):儀器由光學(xué)成像系統(tǒng)、智能分析軟件、220g量程1mg精度電子天平組成。系統(tǒng)具有的自學(xué)習(xí)能力,實(shí)現(xiàn)人性化的一鍵式智能分析,并可交互修正個(gè)別的分類錯(cuò)誤點(diǎn),以達(dá)到*正確分類結(jié)果。該分析系統(tǒng)能大批量處理,自動(dòng)分析300個(gè)以上小麥和面粉樣品的圖像。由專業(yè)軟件分析成像后的彩色圖像,準(zhǔn)確、快速地測定小麥的粒數(shù)、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度、籽粒飽滿度(即:可按面積自動(dòng)排序及輸出)、籽粒顏色、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等指標(biāo),以及面粉中的麩星粒數(shù)和大小、麩星面積比和對應(yīng)的砂石占比。軟件能讓用戶實(shí)時(shí)看到真實(shí)樣品分析過程情況,并交互修正;當(dāng)面粉指標(biāo)偏離設(shè)定參數(shù)時(shí),可報(bào)警顯示;用戶可隨意查詢檢測結(jié)果,并打印。所有測試圖像分析結(jié)果和數(shù)據(jù)可在電腦上顯示并保存。樣品數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,結(jié)果穩(wěn)定、重復(fù)性高。
3.主要性能指標(biāo)*:
l zui大分析面積:小麥為A4紙幅面;面粉為35mm×35mm
l 測量時(shí)間:小麥≤2分鐘/樣品;面粉≤1分鐘/樣品視野。
l 小麥千粒重測量誤差≤±0.5%
l 外觀品質(zhì)兩次掃描單面分析的重復(fù)性誤差≤±2.0%
l 可接入條碼槍來自動(dòng)刷入樣品編號,分析結(jié)果可對應(yīng)樣品編號輸出至EXCEL表,分析圖像標(biāo)記結(jié)果可保存。
4.儀器規(guī)格配置:
帶RS232線電子天平(220g量程、1mg精度)1臺,LED光源、zui高光學(xué)分辯率4800×9600dpi彩色掃描儀1臺,單筒體視顯微鏡+300萬像素相機(jī)1套、微型手動(dòng)移動(dòng)平臺1套,小麥外觀品質(zhì)分析、面粉麩星檢測軟件光盤1張(含電子版操作手冊)、軟件鎖1只,籽粒收納盤1個(gè),緊粉用面粉成像小盤1付。(電腦需另配)
儀器總尺寸、總重量:寬×深×高約50cm×40cm×12cm,~13kg。
5.環(huán)境條件:
溫度10~30℃,相對濕度≤85%,防止強(qiáng)光照射。儀器應(yīng)放在平穩(wěn)工作臺上,周圍無強(qiáng)烈的機(jī)械振動(dòng)和電磁干擾;電源要求220V±10%,50Hz。
選配電腦*: 臺式機(jī)電腦(i5以上CPU /8G內(nèi)存/含支持CUDA的GPU(如:GTX1060、GTX1070)/128G以上硬盤/DVD刻錄/ 23”彩顯,5個(gè)以上USB接口,64位的Windows 7完整專業(yè)版或完整旗艦版),該電腦價(jià)約0.7-1萬