EDS X射線探測(cè)器
EDS X 射線探測(cè)器提供適合于各種采樣需求的 X 射線檢測(cè)器方案。
EDS X 射線探測(cè)器完善的高分辨率和高生產(chǎn)力解決方案,適合于從常規(guī)分析到高級(jí)研究的各種應(yīng)用。
在 X 射線微區(qū)分析系統(tǒng)中,沒(méi)有任何組件比得上 X 射線檢測(cè)器對(duì)系統(tǒng)性能和準(zhǔn)確度的影響。 三十五年多以來(lái), Fisher Scientific 一直是電子顯微鏡高分辨率 X 射線檢測(cè)解決方案開(kāi)發(fā)和制造領(lǐng)域的。
Available Detectors
- 可為當(dāng)前業(yè)內(nèi)的所有電子柱儀器提供探測(cè)器,其機(jī)械接口可定制,以確保真空完整性和*收集效率
- 探測(cè)器具有各種設(shè)計(jì),可與 SEM、LVSEM、FESEM、TEM、STEM、探針、DR、 雙柱 FIB 或鉆孔機(jī)準(zhǔn)確對(duì)接
UltraDry Silicon Drift Detector
- UltraDry 30--30mm 有源區(qū)域,生產(chǎn)力高,樣品損壞率低
- UltraDry 10 --10mm 有源區(qū)域,極限峰分辨率
- 分辨率選項(xiàng)從 128eV 到 143eV
- 在選定模型上輕元素檢測(cè)可下溯到鈹
- 具有在電子顯微鏡下的性能保障
- 以電子方式冷卻,無(wú)風(fēng)扇或外部冷卻源。 無(wú)液氮工作條件消除了與傳統(tǒng)液氮冷卻檢測(cè)器相關(guān)的危險(xiǎn)、繁瑣與成本開(kāi)銷(xiāo)。
- 與大多數(shù) SEM、FESEM 和微量探針兼容&bulletc1_end
NanoTrace LN-Cooled Si(Li) Detector
- 優(yōu)秀的低能性能
- 符合 ISO 15632 標(biāo)準(zhǔn)要求
- 具有在電子顯微鏡下的性能保障
- 錳分辨率低至 129eV
- 氟分辨率低至 65eV
- 碳分辨率低至 62eV
- 提供從 1.5 到 10 升的杜瓦瓶容量
- 晶體面積從 10mm 到 50mm
- 在選定模型上輕元素檢測(cè)可下溯到鈹