JW－004比表面分析儀
一、比表面分析儀技術參數如下：

主機功能比表面分析儀：
（1）單點及多點比表面分析儀，并可測定吸附常數C 值
（2）直接對比法比表面分析儀快速測定
（3）Langmuir比表面分析儀

測定范圍：（1）比表面分析儀：0.1-3500㎡/g

比表面分析儀重復精度： ≤±3%

比表面分析儀測量原理：動態常壓連續氮吸附法，BET原理，直接對比法

比表面分析儀樣品種類：  納米材料，氧化物，氧化硅，氧化鋯，催化劑、鈷酸鋰、錳酸鋰、正極材料、鋰電池、纖維及其它可裝入U型樣品管樣品

二、產品特點

1.采用本公司*的氮分壓精確控制新技術，可實現快速、精確、穩定的氣體分壓調節，完善了動態法BET測試技術，突破了*以來國內動態法的技術瓶頸，真正實現動態法BET精確測定。

2. 比表面分析儀中另一個關鍵技術是測試系統死體積的校正和氮吸脫附峰面積所代表的氮氣量體積的標定，若不能準確標定此體積，BET測試就無法實現。該儀器通過*巧妙的氣路設計實現了該參數的準確獲得，確保測試結果的準確性。

3. 巧妙的氣路系統設計和靈活的軟件數據處理相配合，實現了簡單的操作即可進行直接對比法，BET法相互轉換，有利于用戶根據實際需要靈活選擇測試方法。

4. 比表面分析儀與國外同類產品相比，該儀器通過對并聯氣路的改進，可同時進行4個樣品的BETBET法比表面積測定，大大提高測試效率。

5. 獨立的樣品脫氣及預處理系統，可減少樣品處理對測試系統的干擾和損害；可根據樣品不同選擇合適的處理方式，預處理和測試可同時進行，提高工作效率。配以我公司研制的樣品預處理裝置—JW吹掃機，可實現市場同類動態法產品無法實現的真空處理；

6. 比表面分析儀動態測試方法過程十分直觀，可以觀察到不同氮分壓條件下，氮吸附和脫附的全過程，測試程序手動和自動控制有機結合，有利于對測試過程的靈活掌控。
精微高博公司研制JW系列靜態容量法及動態法比表面分析儀
：王芳   ：