(LQS）薄膜測厚儀 型號:RR64-leeb252庫號：M404879 (LQS）薄膜測厚儀 型號:RR64-leeb252庫號：M404879 (LQS）薄膜測厚儀 型號:RR64-leeb252庫號：M404879

雙用一體涂鍍層測厚儀/覆層測厚儀、鍍層測厚儀、漆膜測厚儀、薄膜測厚儀 型號:RR64-leeb252

庫號：M404879   查看hh

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leeb252涂層測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量；既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場；
地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；是材料保護(hù)*的儀器。
符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T4956-1985 磁性方法；
GB/T4957-1985 渦流方法；
JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀；
JJG889-95 《磁阻法測厚儀》；
JJG818-93 《電渦流式測厚儀》。
功能與特點(diǎn)
采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量：
磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；
非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
可采用兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
具有存貯功能：可存貯500 個(gè)測量值
具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報(bào)警；并可用直方圖對一批測量值進(jìn)行分析
具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖
具有電源欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式
技術(shù)參數(shù)
測頭類型：F | N
測量原理：磁感應(yīng) | 電渦流
測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：0.1um
探頭連接方式：一體化
示值誤差：F | N
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件：F | N
小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
基體小面積的直徑(mm)：ф7
小臨界厚度(mm)：0.5
小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
基體小面積的直徑(mm)：ф5
小臨界厚度(mm)：0.3
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
統(tǒng)計(jì)功能：平均值、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設(shè)置：有
存儲能力：500個(gè)測量值
打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電
關(guān)機(jī)方式：手動和自動
電源：二節(jié)AAA型（7號）1.5V電池
外形尺寸：110×50×23mm
重量：100g

一體雙用，磁感應(yīng)、電渦流,0-1250um，一個(gè)按鍵集團(tuán)