KY-99C靜態(tài)顯微顆粒圖像儀
產(chǎn)品簡介：
KY-99C是凱云儀推出的第三代靜態(tài)顆粒圖像分析儀通過新一代高清數(shù)字?jǐn)z像系統(tǒng)，可將顆粒形貌直觀的反映在電腦屏幕上。使測試人員首先對顆粒的總體狀態(tài)有一個直觀了解，進(jìn)而通過自主開發(fā)的軟件系統(tǒng)，獲得常規(guī)粒度分布數(shù)據(jù)的同時還可以得到球形度、長徑比等形貌表征數(shù)據(jù)。這是其他種類的顆粒測試儀器所達(dá)不到的，對于某些行業(yè)具有重要意義。
KY-99C既可以獨(dú)立完成簡單的粒度測試任務(wù)，也可以作為激光粒度儀的輔助和補(bǔ)充，對樣品進(jìn)行更全面更多樣的分析，是顆粒測試工作中*的得力助手。
適用范圍：
KY-99C靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
“KY-99C顆粒圖像儀”作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆粒或顆粒相關(guān)行業(yè)設(shè)計開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢主要體現(xiàn)在以下方面：
專業(yè)性強(qiáng)：與其他廠家生產(chǎn)的各種類型圖像分析儀器相比，凱云儀專業(yè)的顆粒測試研究經(jīng)驗與圖像學(xué)理論*結(jié)合，是“KY-99C顆粒圖像儀”專業(yè)性的保證。本產(chǎn)品不但可對樣品的顆粒單體的進(jìn)行科學(xué)描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式進(jìn)行直觀表現(xiàn)。能夠獨(dú)立或輔助激光粒度儀等設(shè)備更好的進(jìn)行顆粒測試工作。
數(shù)據(jù)直觀、易懂，分析結(jié)果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進(jìn)行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設(shè)備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數(shù)據(jù)含義。
應(yīng)用廣泛，價格低廉：“KY-99C顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進(jìn)行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數(shù)據(jù)，操作直觀簡便，應(yīng)用范圍十分廣泛。且產(chǎn)品價格低廉，適用于不同行業(yè)不同規(guī)模的企業(yè)用戶。
KY-99C顯微顆粒圖像分析儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置
| 硬件參數(shù) | ||
顯 微 系 統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺 | 手動三維機(jī)械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器） | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器） | |||
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |||
攝 像 系 統(tǒng) | zui高分辨率 | 2048×1536 | ||
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |||
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |||
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |||
zui高清晰度 | 900線 | |||
信噪比 | 小于42dB | |||
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |||
輸出方式 | USB2.0 | |||
實際觀測范圍 | 1微米——6000微米 | |||
軟件參數(shù) | ||||
軟 件 功 能 | 靜態(tài)采集 | 將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片 | ||
圖片處理 | 使用多種畫圖工具對圖片進(jìn)行比較簡單的處理 | |||
圖像拼接 | 將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性 | |||
顆粒的自動處理工具集 | 自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。 | |||
比例尺標(biāo)定 | 通過國家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。 | |||
單個顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析 | |||
任務(wù)管理機(jī)制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 | |||
報告輸出 | 將測試結(jié)果輸出為報告，并可以自定義報告樣式。 | |||
整體分布特征參數(shù) | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |||
報 告 參 數(shù) | 整體頻率分布累計分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 | ||
統(tǒng)計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑 | |||
形狀參數(shù) | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù) | |||
個數(shù)統(tǒng)計 | 直接得到所觀測的顆粒數(shù)量 | |||
樣品縮略圖 | 可以將樣品縮略圖顯示到報告中 | |||
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中 | |||
自定義LOGO | 用戶可以自定義LOGO和報告名稱，使輸出的報告顯示自己公司的信息 | |||
