涂層測厚是公司的創立者karl deutsch進行開拓性工作的結晶。自從1950年推出的*臺leptoskop及隨后的研發工作，才有了目前的leptoskop 系列。 karl deutsch leptoskop 利用磁感應的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 leptoskop 可以利用渦流法測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
| leptoskop 2041涂層測量儀的詳細介紹 |
*的涂層厚度測量率 | | 在2000年博覽會上涂層測厚儀被介紹給公眾。 *的大型顯示屏面積達到28 mm x 55 mm ，64 x 128 像素 | | 
| | 這種圖形顯示器不僅使顯示的字符達到12mm高，更使操作顯著簡單化。 | | 幾個菜單項號可獨立顯示，且帶有清晰的自動說明。通過光標移動選擇所需功能，通過點擊enter鍵激活。并且可以在測量使輕易修改儀器設置。 |  | 幾乎可以在測量結果顯示的同時清晰度出結果。 | 
| 在測量同時可以顯示平均值。 這就使儀器的精確度得到提高，探頭的放置誤差可以被輕松識別，溢出值可被刪除。 另外顯示器具有背景燈照明，可在黑暗條件下使用。 大容量的數據存儲器可儲存8000個讀數，調用存儲數據或與windows操作系統的pc機聯機處理數據都很方便。 大量的不同種類探頭幾乎可以適用所有測量工作。探頭可被用來測量厚達1200um的磁基體上的非磁性涂層或導體上的非導電涂層。還有可以測量厚達12mm的雙極探頭。 另外我們還可以按不同客戶的需求定制探頭> |
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