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西安天光測控技術(shù)有限公司
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ST-Thermal_TC
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更新時間：2023-09-13 13:57:25瀏覽次數(shù)：334次
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天光測控被動循環(huán)試驗臺測試參數(shù)：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
包括 功率循環(huán)·秒級&分鐘級/Pcsec&PCmin，被動循環(huán)/TC，熱阻（抗）/Rth/Zth，K曲線/Kcurve
被動循環(huán)試驗臺（TC）
ST-Thermal_TC
可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
包括 功率循環(huán)·秒級&分鐘級/Pcsec&PCmin，被動循環(huán)/TC，熱阻（抗）/Rth/Zth，K曲線/Kcurve
?電路原理簡圖
天光測控被動循環(huán)試驗臺說明： Qf為總進線保護斷路器，電源電壓經(jīng)過電壓調(diào)節(jié)到主功率變壓器，由主功率變壓器到整流和濾波單元，產(chǎn)生大功率直流電源。再由電子開關(guān)施加到被測單元。圖中二極管為隔離二極管，熱敏電流單元提供足夠大的熱敏電流。觸發(fā)單元施加規(guī)定的觸發(fā)電壓，處于導(dǎo)通狀態(tài)。工控機和PLC智能系統(tǒng)保證設(shè)備的正常工作時序和操作人員安全。冷卻系統(tǒng)和氣路系統(tǒng)保證設(shè)備的可靠運行
天光測控被動循環(huán)試驗臺
?產(chǎn)品特點
? *的DUT適配器（針對不同封裝外觀的器件及模塊，提供的適配連接裝置）；
? 系統(tǒng)具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續(xù)工作的特點；
? 測試程序由計算機控制，按設(shè)定的程序進行自動測試，且系統(tǒng)采用內(nèi)控和外控兩種方式，便于工作人員操作；
? 脫機狀態(tài)時，面板顯示每個工位的殼溫，試驗電流、試驗次數(shù)、加熱時間、冷卻時間等；
? 器件保護：被測器件及模塊的特性變化超過限值后自動停止測試；
? 安全穩(wěn)定（PLC 對設(shè)備的工作狀態(tài)進行全程實時監(jiān)控并與硬件進行互鎖）；
? 智能化，通過主控計算機進行操控及數(shù)據(jù)編輯，測試結(jié)果自動保存及上傳局域網(wǎng)；
? 安全防護：系統(tǒng)具有防爆、防觸電、防燙傷、煙霧、漏液等多重保護，結(jié)合遠程測試能力確保操作人員安全。
? 配有漏電保護器及空氣開關(guān)，對短路、過載及漏電等情況進行保護，設(shè)計符合CE認證；
?技術(shù)規(guī)格
產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動態(tài)參數(shù)測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環(huán)境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
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