半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)測試參數(shù)：可測試 19大類27分類大中小功率的分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)
（測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極輸出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA

詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)

ST-SP 2000系列

可測試 19大類27分類大中小功率的分立器件及模塊的靜態(tài)直流參數(shù)
（測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極輸出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能

? 產(chǎn)品應(yīng)用

應(yīng)用領(lǐng)域
高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進(jìn)行測試，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較*的器件進(jìn)行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產(chǎn)線自動化測試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）
天光測控-半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)

? 產(chǎn)品簡述

產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計算機(jī)獨立完成多種工作。
曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù)，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外，針對多條曲線，設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡潔的創(chuàng)*線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。
設(shè)備支持在單個 DUT 上運(yùn)行高達(dá) 10 條不同曲線的能力，在運(yùn)行過程中，每個圖表都是可視的，每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快，可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運(yùn)行多條曲線并自動排序，自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點。
系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。

? 產(chǎn)品特點

?測試范圍廣（19大類，27分類）

?升級擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us

?被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試, 保證被測器件不受損壞

?真正的動態(tài)跨導(dǎo)測試。（主流的直流方法測動態(tài)跨導(dǎo) ，其結(jié)果與器件實際值偏差很大）

?系統(tǒng)故障在線判斷修復(fù)能力，便于應(yīng)急處理排障

?二極管極性自動判別功能，無需人工操作

?IV 曲線顯示 / 局部放大

?程序保護(hù)大電流/電壓,以防損壞

?品種繁多的曲線

?可編程的數(shù)據(jù)點對應(yīng)

? 增加線性或?qū)?shù)

?可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱

?保存和重新導(dǎo)入入口程序

?保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象

?曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL

?曲線程序和數(shù)據(jù)自動存入 EXCEL

? 測試能力

序號	測試器件	測試參數(shù)
01	IGBT	ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS
02	MOSFET / MOS場效應(yīng)管	IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
03	J-FET / J型場效應(yīng)管	IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF
04	晶體管（NPN/PNP）	ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF
05	DIODE / 二極管	IR；BVR ；VF
06	ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管	IR；BVZ；VF；ZZ
07	DIAC / 雙向觸發(fā)二極管	VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,
08	OPTO-COUPLER / 光電耦合	ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)
09	RELAY / 繼電器	RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME
10	TRIAC / 雙向可控硅	VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
11	SCR / 可控硅	IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH
12	STS / 硅觸發(fā)可控硅	IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-
13	DARLINTON / 達(dá)林頓陣列	ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON
14	REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器	Vout；Iin；
15	OPTO-SWITCH / 光電開關(guān)	ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF
16	OPTO-LOGIC / 光電邏輯	IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF
17	MOV / 金屬氧化物壓變電阻	ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；
18	SSOVP / 固態(tài)過壓保護(hù)器	ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ-
19	VARISTOR / 壓變電阻	ID+； ID-；VC+ ；VC-