SediGraph®Ⅲ Plus

全自動X光沉降粒度分析儀

SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

• 儀器與配件報價 • • 產品培訓

久經考驗的技術和可靠性

在過去的四十多年中，美國麥克儀器公司的SediGraph是*許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室，SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

  • 產品應用
  • 軟件和數據報告
  • 應用筆記、文獻和參考書目
  • ASTM測試方法

智能設計特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀*的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性*的結果。

• 簡化泵系統(tǒng)，確保快速分析和易于維護

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護提醒裝置，根據總測試量，提示用戶進行定期維護

• 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性

• Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報告系統(tǒng)，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

多項功能

  • 完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析，包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
  • 能夠與其他粒徑測得的數據相結合，使數據報告范圍可擴展至125,000μm (125mm)，在地質學方面具有很好的應用
  • 自下而上地掃描沉降室，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數，同時小化顆粒分離所需的時間
  • 全自動操作模式能夠增加分析樣品總數，并且能夠減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差
  • 控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質不發(fā)生任何變化，以獲取精確的分析結果
  • 多種分析速度，可根據實際需要選擇所需的速度和分辨率
  • 實時顯示，能夠監(jiān)控當前分析的累積質量圖，以便根據需求立即修正分析程序
  • 統(tǒng)計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對變化做出響應
  • 多圖疊加功能，能夠對分析結果進行可視化比較，例如：與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加
  • 數據比較圖，能夠提供兩套數據組（不同于參考圖）圖形顯示的數學差或某個數據點高于/低于誤差范圍的程度（圖以外）
  • 能夠使用同一臺計算機同時控制兩SediGraph，節(jié)約寶貴的實驗室空間，方便數據存儲