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詳細介紹
產品概述
§ SYNAPT XS質譜儀具有靈活性，可提供更大的選擇自由度。
§ 憑借沃特世高級質譜“SELECT SERIES"傳承下來的技術基石，內置的創新技術，確保使用該平臺的科學家處于質譜分析的，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。
§ 重新設計的分段四極桿傳輸光學元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩定性。
§ 針對最復雜的樣品，提供兼容UPLC的質量分辨率、耐受各種基質的動態范圍和定量分析結果，同時提供的性能指標。
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優勢特點
§ 創新技術作為基石，提供異的分析性能
§ SONAR和HDMSE提供一套的工具包，用于解析復雜混合物。
完整的分析策略需要結合適當的互補技術才能得到更全面的數據信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數據依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補機制，以無二的方式解析復雜混合物。
§ 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
§ 傳統質譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數，對分子進行分離。
§ CCS測量可提高化合物鑒定的準確性
離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。
§ CID與ETD碎裂功能
TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質量測定準確，能夠拓展MS/MS檢測能力。
§ TAP碎裂
配置
離子源 | ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™ |
傳輸模式 | UPLC/Tof MRM |
數據采集 | UPLC/MSE |
碰撞室 | XS碰撞室 |
數據分析 | UPLC/FastDDA |
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